[发明专利]一种测试装置

说明书

本发明涉及电子产品检测技术领域，具体公开一种测试装置。该测试装置包括上料机构、承载机构、检测机构和转移机构，上料机构上设置有多个叠加的承载盘，每个承载盘上设置有多个承载格，每个承载格内均能够容纳一个待测试工件，承载机构用于承载承载盘，检测机构位于承载机构的上方，能够依次对承载盘上的待测试工件进行检测，转移机构被配置为将上料机构上的承载盘转移至承载机构上。本发明提供的测试装置，通过上料机构、承载机构、检测机构和转移机构之间的相互配合，实现了对待测试工件的上料、转移及检测过程，自动化程度较高，降低操作人员的劳动强度，人工成本较低。

技术领域

本发明涉及电子产品检测技术领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

随着科学技术的进步，电子系统越来越复杂，电子系统的可靠性和可维护性要求也越来越高。电路板作为电子系统研制和生产中的重要组成部分，其质量的好坏直接影响整个设备的质量，因此，在组装之前需要对电路板的性能进行测试。

现有技术中的测试装置通常包括承载机构和检测组件，承载机构位于检测组件的下方，承载机构用于承载待测试工件，检测组件用于对承载机构上放置的待测试工件进行检测，现有的测试过程通常是：首先操作人员将待测试工件放置于承载机构上，检测组件开始对待测试工件进行检测，当检测组件检测完该工件后，操作人员将该工件取下，再在承载机构上放置另一个待测组件。采用这种测试方法，操作人员一次上料后检测组件只能对一个工件进行测试，使得测试组件的待机时间较长，测试效率较低，且操作人员的劳动强度较大，人工成本较高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试装置，减少测试组件的待机时间，测试效率较高，降低操作人员的劳动强度，人工成本较低。

如上构思，本发明所采用的技术方案是：

一种测试装置，包括：

上料机构，其上设置有多个叠加的承载盘，每个所述承载盘上设置有多个承载格，每个所述承载格内均能够容纳一个待测试工件；

承载机构，所述承载机构用于承载所述承载盘；

检测机构，其位于所述承载机构的上方，能够依次对所述承载盘上的所述待测试工件进行检测；

转移机构，所述转移机构被配置为将所述上料机构上的所述承载盘转移至所述承载机构上。

作为一种测试装置的优选方案，所述承载机构包括：

Y向驱动件；

Y向位移平台，其与所述Y向驱动件的输出端相连，所述Y向驱动件能够驱动所述Y向位移平台沿Y方向移动；

X向驱动件，其设置于所述Y向位移平台上；

承载板，其与所述X向驱动件的输出端相连，所述X向驱动件能够驱动所述承载板沿X方向移动，所述承载板上用于放置所述承载盘；

其中，所述X方向和所述Y方向相互垂直。

作为一种测试装置的优选方案，所述检测机构包括：

探针组件，其能够抵接于所述待测试工件的表面并对其进行检测；

检测升降驱动件，其用于驱动所述探针组件升降。

作为一种测试装置的优选方案，所述探针组件包括：

检测支架，其与所述检测升降驱动件的输出端相连；

多个检测探针，多个所述检测探针均设置于所述检测支架上，所述检测探针能够抵接于所述待测试工件的表面。

作为一种测试装置的优选方案，所述检测机构还包括距离传感器，所述距离传感器被配置为检测所述检测探针的下降距离。