[发明专利]测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 202010552048.9 申请日: 2020-06-17
公开(公告)号: CN111795799A 公开(公告)日: 2020-10-20
发明(设计)人: 王醉;吕波 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G06F11/26
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 远明
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试 方法 装置
【说明书】:

发明提供一种测试方法及装置。其中,测试方法用于对显示面板进行性能测试,显示面板包括至少一个功能单元,每一功能单元对应至少一个性能指标,测试装置中存储有每一性能指标对应的模板数据和测试策略,测试方法包括:确定待测试的功能单元和待测试的性能指标;根据待测试的性能指标,调用对应的模板数据和测试策略;根据待测试的功能单元和测试策略,对模板数据进行测试。本发明通过预先在测试装置中存储显示面板的每一性能指标对应的模板数据和测试策略,在需要对显示面板进行性能测试时,只需根据待测试的性能指标即可获取到对应的模板数据和测试策略,并根据显示面板的待测试的结构和测试策略对模板数据进行测试,准确率高且效率高。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种测试方法及装置。

背景技术

在生产显示面板之前,需要对显示面板进行设计,并对设计好的显示面板进行性能测试,以确保按照设计好的显示面板生产出来的显示面板具有优越的性能。现阶段通常采用人工测试的方法对设计好的显示面板进行性能测试,即,测试人员对设计好的显示面板进行人工处理分析,从而得到其性能测试结果。但由于人工测试的方法需要测试人员人工处理分析,一旦一个环节出现错误,则会使得测试结果准确率大大降低,并且,人工处理分析还具有效率低的问题。

发明内容

因此,有必要提供一种测试方法及装置,用以解决现有的对显示面板进行性能测试的测试方法准确率低和效率低的问题。

第一方面,本发明实施例提供一种测试方法,应用于测试装置中,用于对显示面板进行性能测试,所述显示面板包括至少一个功能单元,每一所述功能单元对应至少一个性能指标,所述测试装置中预先存储有每一所述性能指标对应的模板数据和测试策略,所述测试方法包括:

确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标;

根据待测试的所述性能指标,调用对应的所述模板数据和所述测试策略;

根据待测试的所述功能单元和所述测试策略,对所述模板数据进行测试。

在本发明的一种可选实施例中,确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标,包括:

导入所述显示面板的布局图;

从所述布局图中选取特定功能单元,并作为待测试的所述功能单元;

确定待测试的所述性能指标。

在本发明的一种可选实施例中,根据待测试的所述功能单元和所述测试策略,对所述模板数据进行测试,包括:

提取待测试的所述功能单元中的参数;

将所述参数导入至所述模板数据中,以对所述模板数据进行修改;

根据所述测试策略对修改后的所述模板数据进行测试。

在本发明的一种可选实施例中,所述功能单元包括至少一个子功能单元,所述测试方法还包括:

输出至少一个所述子功能单元分别针对待测试的所述性能指标的分项测试结果。

在本发明的一种可选实施例中,所述测试方法还包括:

对至少一个所述子功能单元分别针对待测试的所述性能指标的分项测试结果进行汇总,得到待测试的所述功能单元针对待测试的所述性能指标的汇总测试结果。

在本发明的一种可选实施例中,所述测试方法还包括:

根据至少一个所述分项测试结果和/或所述汇总测试结果,对待测试的所述功能单元进行修改。

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