[发明专利]测试方法及装置

权利要求书

1.一种测试方法，应用于测试装置中，用于对显示面板进行性能测试，所述显示面板包括至少一个功能单元，每一所述功能单元对应至少一个性能指标，其特征在于，所述测试装置中预先存储有每一所述性能指标对应的模板数据和测试策略，所述测试方法包括：

确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标；

根据待测试的所述性能指标，调用对应的所述模板数据和所述测试策略；

根据待测试的所述功能单元和所述测试策略，对所述模板数据进行测试。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标，包括：

导入所述显示面板的布局图；

从所述布局图中选取特定功能单元，并作为待测试的所述功能单元；

确定待测试的所述性能指标。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，根据待测试的所述功能单元和所述测试策略，对所述模板数据进行测试，包括：

提取待测试的所述功能单元中的参数；

将所述参数导入至所述模板数据中，以对所述模板数据进行修改；

根据所述测试策略对修改后的所述模板数据进行测试。

4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述功能单元包括至少一个子功能单元，所述测试方法还包括：

输出至少一个所述子功能单元分别针对待测试的所述性能指标的分项测试结果。

5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

对至少一个所述子功能单元分别针对待测试的所述性能指标的分项测试结果进行汇总，得到待测试的所述功能单元针对待测试的所述性能指标的汇总测试结果。

6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

根据至少一个所述分项测试结果和/或所述汇总测试结果，对待测试的所述功能单元进行修改。

7.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，若所述功能单元为像素，则所述像素对应的所述性能指标为充电率或充电时间；若所述功能单元为薄膜晶体管，则所述薄膜晶体管对应的所述性能指标为电阻值或电容值；若所述功能单元为阵列基板栅极驱动电路，所述阵列基板栅极驱动电路对应的所述性能指标为保持电压、信号的上升时间或信号的下降时间。

8.一种测试装置，用于对显示面板进行性能测试，所述显示面板包括至少一个功能单元，每一所述功能单元对应至少一个性能指标，其特征在于，所述测试装置包括：

存储模块，用于存储每一所述性能指标对应的模板数据和测试策略；

测试对象确定模块，用于确定待测试的所述功能单元和待测试的所述性能指标；

调用模块，用于根据待测试的所述性能指标，调用对应的所述模板数据和所述测试策略；

测试模块，用于根据待测试的所述功能单元和所述测试策略，对所述模板数据进行测试。

9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器；

所述存储器中存储有计算机程序；

所述处理器，用于执行所述计算机程序以实现权利要求1至7中任一项所述的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的测试方法。