[发明专利]一种芯片验证方法、装置、芯片及存储介质有效
申请号: | 202010540313.1 | 申请日: | 2020-06-12 |
公开(公告)号: | CN111858306B | 公开(公告)日: | 2023-10-27 |
发明(设计)人: | 杨晶晶 | 申请(专利权)人: | 海光信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F11/22 |
代理公司: | 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463 | 代理人: | 唐正瑜 |
地址: | 300450 天津市滨海新区华苑产*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 验证 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种芯片验证方法,其特征在于,所述芯片包括验证系统,所述验证系统包括子系统层级的验证环境以及IP核层级的验证环境,所述子系统层级的验证环境包括子系统层级的测试场景层,所述IP核层级的验证环境包括IP核层的测试场景层,所述子系统层级的测试场景层和所述IP核层的测试场景层复用核心环境层,所述方法应用于所述芯片,所述方法包括:
通过所述IP核层的测试场景层以及子系统层级的测试场景层获取待测试用例的参数信息;
根据所述参数信息获取所述待测试用例对应的多个操作执行信息;
通过所述IP核层的测试场景层以及子系统层级的测试场景层将所述多个操作执行信息传输给所述核心环境层;
通过所述核心环境层根据所述多个操作执行信息从封装在所述核心环境层中的多个验证组件中确定多个目标验证组件;
通过所述核心环境层将每个操作执行信息分配给对应的目标验证组件,以使所述多个目标验证组件对待测试用例进行验证。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多个操作执行信息包括多个操作执行指令,通过所述核心环境层根据所述多个操作执行信息从封装在所述核心环境层中的多个验证组件中确定多个目标验证组件,包括:
通过所述核心环境层根据每个操作执行指令调用所述核心环境层内部存储方法将每个操作执行信息翻译成对应目标验证组件的配置信息;
通过所述核心环境层根据每个目标验证组件的配置信息从封装在所述核心环境层中的多个验证组件中确定对应的目标验证组件;
通过所述核心环境层将所述每个操作执行信息分配给对应的目标验证组件,包括:
将每个操作执行信息翻译成的配置信息分配给对应的目标验证组件。
3.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述参数信息包括所述待测试用例的IP核协议类型标识,所述IP核层级的验证环境还包括通用方法库,所述通用方法库中封装的具有协议功能的不同IP核的测试用例分别对应的多个操作执行信息,所述多个操作执行信息包括具有协议功能的不同IP核的测试用例针对其共同部分所对应的多个共用操作执行信息,以及针对各区别部分所对应的多个区别操作执行信息,所述根据所述参数信息获取所述待测试用例对应的多个操作执行信息,包括:
在所述通用方法库中查找所述多个共用操作执行信息,以及根据所述IP核的协议类型标识在所述通用方法库中查找对应的多个区别操作执行信息,并对所述多个区别操作执行信息进行方法重载。
4.一种芯片验证装置,其特征在于,所述芯片包括验证系统,所述验证系统包括子系统层级的验证环境以及IP核层级的验证环境,所述子系统层级的验证环境包括子系统层级的测试场景层,所述IP核层级的验证环境包括IP核层的测试场景层,所述子系统层级的测试场景层和所述IP核层的测试场景层复用核心环境层,所述装置应用于所述芯片,所述装置包括:
获取模块,用于通过所述IP核层的测试场景层以及子系统层级的测试场景层获取待测试用例的参数信息;以及,根据所述参数信息获取所述待测试用例对应的多个操作执行信息;
发送模块,用于通过所述IP核层的测试场景层以及子系统层级的测试场景层将所述多个操作执行信息传输给所述核心环境层;
确定模块,用于通过所述核心环境层根据所述多个操作执行信息从封装在所述核心环境层中的多个验证组件中确定多个目标验证组件;
分配模块,用于通过所述核心环境层将每个操作执行信息分配给对应的目标验证组件,以使所述多个目标验证组件对待测试用例进行验证。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述多个操作执行信息包括多个操作执行指令,所述确定模块,具体用于通过所述核心环境层根据每个操作执行指令调用所述核心环境层内部存储方法将每个操作执行信息翻译成对应目标验证组件的配置信息;通过所述核心环境层根据每个目标验证组件的配置信息从封装在所述核心环境层中的多个验证组件中确定对应的目标验证组件;
所述分配模块,具体用于将每个操作执行信息翻译成的配置信息分配给对应的目标验证组件。
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