[发明专利]一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法、装置及系统

说明书

本发明公开一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法、装置及系统，创建trim表，trim表中包含多个记录位，记录位的数量与待测SSD固态硬盘的逻辑区块地址数量相同，一个记录位对应一个逻辑区块地址；对待测SSD固态硬盘下发trim命令时，将trim表中对应记录位设置为无效标识；对待测SSD固态硬盘下发write命令时，将trim表中对应记录位设置为有效标识；所有命令下发完成后，读取待测SSD固态硬盘各个逻辑区块地址的数据内容，并验证trim表中各对应记录位的标识信息，若所有逻辑区块地址的数据内容与对应trim表中记录位的标识信息相符，则待测SSD固态硬盘的trim数据校验正常。本发明实时记录SSD固态硬盘中逻辑区块地址的数据有效性，构建测试用例，使trim数据校验场景更加全面。

技术领域

本发明涉及SSD固态硬盘测试领域，具体涉及一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法、装置及系统。

背景技术

现在的自动化测试手段，没有有效的记录trim过的数据内容，并且也没有记录哪些trim过的数据中被写入了有效数据；这样带来的问题是，无法确认数据校验的有效性；特别是在一些随机trim+随机write+上下电（正常或异常）的应用场景中，无法确认trim的数据是否无效，写过的数据是否数据有效；现在的对SSD固态硬盘的trim数据校验测试手段无法覆盖实际应用中的相关场景。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法、装置及系统，对随机trim+随机write的场景进行数据校验功能测试，增加SSD固态硬盘的测试用例。

本发明的技术方案是：一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法，包括以下步骤：

创建trim表，trim表中包含多个记录位，记录位的数量与待测SSD固态硬盘的逻辑区块地址数量相同，一个记录位对应一个逻辑区块地址；

对待测SSD固态硬盘下发trim命令时，将trim表中对应记录位设置为无效标识；对待测SSD固态硬盘下发write命令时，将trim表中对应记录位设置为有效标识；

所有命令下发完成后，读取待测SSD固态硬盘各个逻辑区块地址的数据内容，并验证trim表中各对应记录位的标识信息，若所有逻辑区块地址的数据内容与对应trim表中记录位的标识信息相符，则待测SSD固态硬盘的trim数据校验正常。

进一步地，trim表为一块连续的内存空间。

进一步地，内存空间的一个bit位为一个记录位。

进一步地，

对待测SSD固态硬盘下发trim命令时，将trim表中对应记录位设置为无效标识，是指将对应bit位置1；

对待测SSD固态硬盘下发write命令时，将trim表中对应记录位设置为有效标识，是指将对应bit位置0。

进一步地，对待测SSD固态硬盘下发命令过程中，对待测SSD固态硬盘所在主机进行掉电、上电操作。

进一步地，该方法还包括测试场景搭建过程，所述测试场景搭建过程包括：

将控制机和被控机进行连接，在被控机上安装待测SSD固态硬盘；

该方法中，在控制机上创建trim表。

本发明的技术方案还包括一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试装置，包括，

trim表创建模块：创建trim表，trim表中包含多个记录位，记录位的数量与待测SSD固态硬盘的逻辑区块地址数量相同，一个记录位对应一个逻辑区块地址；