[发明专利]一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法、装置及系统有效
| 申请号: | 202010535732.6 | 申请日: | 2020-06-12 |
| 公开(公告)号: | CN111737051B | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
| 发明(设计)人: | 邓京涛 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/14 | 分类号: | G06F11/14 |
| 代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 刘雪萍 |
| 地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 ssd 固态 硬盘 trim 数据 校验 测试 方法 装置 系统 | ||
1.一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
创建trim表,trim表中包含多个记录位,记录位的数量与待测SSD固态硬盘的逻辑区块地址数量相同,一个记录位对应一个逻辑区块地址;
对待测SSD固态硬盘下发trim命令时,将trim表中对应记录位设置为无效标识;对待测SSD固态硬盘下发write命令时,将trim表中对应记录位设置为有效标识;
所有命令下发完成后,读取待测SSD固态硬盘各个逻辑区块地址的数据内容,并验证trim表中各对应记录位的标识信息,若所有逻辑区块地址的数据内容与对应trim表中记录位的标识信息相符,则待测SSD固态硬盘的trim数据校验正常。
2.根据权利要求1所述的SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法,其特征在于,trim表为一块连续的内存空间。
3.根据权利要求2所述的SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法,其特征在于,内存空间的一个bit位为一个记录位。
4.根据权利要求3所述的SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法,其特征在于,
对待测SSD固态硬盘下发trim命令时,将trim表中对应记录位设置为无效标识,是指将对应bit位置1;
对待测SSD固态硬盘下发write命令时,将trim表中对应记录位设置为有效标识,是指将对应bit位置0。
5.根据权利要求1-4任一项所述的SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法,其特征在于,对待测SSD固态硬盘下发命令过程中,对待测SSD固态硬盘所在主机进行掉电、上电操作。
6.根据权利要求5所述的SSD固态硬盘的trim数据校验测试方法,其特征在于,该方法还包括测试场景搭建过程,所述测试场景搭建过程包括:
将控制机和被控机进行连接,在被控机上安装待测SSD固态硬盘;
该方法中,在控制机上创建trim表。
7.一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试装置,其特征在于,包括,
trim表创建模块:创建trim表,trim表中包含多个记录位,记录位的数量与待测SSD固态硬盘的逻辑区块地址数量相同,一个记录位对应一个逻辑区块地址;
标识信息记录模块:对待测SSD固态硬盘下发trim命令时,将trim表中对应记录位设置为无效标识;对待测SSD固态硬盘下发write命令时,将trim表中对应记录位设置为有效标识;
测试模块:所有命令下发完成后,读取待测SSD固态硬盘各个逻辑区块地址的数据内容,并验证trim表中各对应记录位的标识信息,若所有逻辑区块地址的数据内容与对应trim表中记录位的标识信息相符,则待测SSD固态硬盘的trim数据校验正常。
8.根据权利要求7所述的SSD固态硬盘的trim数据校验测试装置,其特征在于,trim表创建模块所创建trim表为一块连续的内存空间;内存空间的一个bit位为一个记录位;
标识信息记录模块对待测SSD固态硬盘下发trim命令时,将trim表中对应记录位设置为无效标识,是指将对应bit位设置为1;
标识信息记录模块对待测SSD固态硬盘下发write命令时,将trim表中对应记录位设置为有效标识,是指将对应bit位设置为0。
9.根据权利要求8所述的SSD固态硬盘的trim数据校验测试装置,其特征在于,该装置还包括,
上下电模块:对待测SSD固态硬盘下发命令过程中,对待测SSD固态硬盘所在主机进行掉电、上电操作。
10.一种SSD固态硬盘的trim数据校验测试系统,其特征在于,包括控制机和被控机,所述控制机配置有权利要求7-9任一项所述的装置,待测SSD固态硬盘安装于所述被控机上。
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