[发明专利]一种简易的场均匀性测试装置及其测试方法

说明书

本发明公开了一种简易的场均匀性测试装置及其测试方法，测试装置包括一对固定夹具、探头以及四个定滑轮，由定滑轮支撑牵引线，带动探头在辐射天线的支撑架下方移动，实现对场均匀性测试。本发明中试装置配套材料易于获取，费用低廉，避免了外加动力的需求，并避免了测试装置自身对外界电磁环境的影响，调试安装方便，易于拆卸、组装和放置，对辐射场空间无限制，适用性强；基于该测试设备的测试方法，科学合理，步骤清晰，操作性强。

技术领域

本发明涉及一种简易的场均匀性测试装置及其测试方法，属于电磁环境测试技术领域。

背景技术

为有效模拟电磁环境，通常需要建立相应指标的模拟器。模拟器辐射场环境是否满足试验需求，需要进行前期的测试和校准。其中，场均匀性测试是模拟器辐射场环境指标确定和试验的前提。目前，国内外对场均匀性测试都有相应的测试标准，通常采用同一垂直平面内的9点或16点测试位置的测试结果评价辐射场均匀性。

为准确评价场均匀性，对场均匀性测试设备和方法提出了较高的要求。首先，测试设备在辐射场区应尽量减小设备自身对场环境的影响，这就要求设备为非金属，且对场的影响尽量小；其次，不论采用几个测试点进行测试，都需要保证各个测试点测试结果的准确性，并且后续均匀性评价时也需要采用一定的数据处理方法以减小评估误差。为解决以上问题，多项专利在场均匀性测试设备或校准方法方面开展了研究。

专利《一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置，申请号CN201720652440.4》提出了一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置，利用可伸缩的定位杆调整测试距离，将测试探头固定在定位杆上。在测试截面上设置有若干个用于测试的探头，其中中心探头与发射天线处于同一轴线，其他每一个探头沿着测试截面的轴向可以移动，使得探头的测试位置变化，从而实现不同位置场的测试。专利《场均匀性校准支架，申请号CN201720774643.0》提出了一种场均匀性校准支架，通过设置不同的支杆插槽和探头连接槽改变测试位置，每测试一个测试点只需要将场强探头连接于对应的探头连接槽。这种装置定位准确，减少了定位和测试的时间，减少了测量的不确定性因素，提高了测试的可重复性，提高了测试效率。专利《具有场均匀性功能的测试架，申请号CN201210456015.X》提出了一种具有场均匀性功能的测试架，通过在多个横向连接结构上设有用于测量的场强探头进行同时测试，其测试架拆分成几个部分，便于携带，组装后形成一个面，测试过程中测试架不再移动，能精确的完成测试要求，同时节省测试时间。专利《用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型系统，申请号CN201220430226.1》提出了一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型系统，不仅能够用于支撑和固定探头，而且能够用于调节探头的位置和角度，对瞬变电磁场场均匀性的校准速度明显加快，对探头的位置和角度的调整精度高。专利《瞬变电磁场的场均匀性的校准方法，申请号CN201210209542.0》提出了一种瞬变电磁场的场均匀性的校准方法，通过选定一个参考点和多个测量点，测试计算测量点的归一化场强值，从而得到场均匀性评价指标。

以上多项公开专利中提出的场均匀性测试装置或方法都在一定程度上解决了前述的两个问题，提高了测试准确度。然而在实际使用过程中还存在以下几个方面的问题：

（1）目前提出的场均匀性测试装置一般为可移动可伸缩的天线支架，涉及固定杆、移动杆、伸缩杆、定位环、转盘等辅助设备，结构复杂，且各个辅助设备的调整一般都需要前期计算好相应的测试位置并配套调整，保证各个辅助设备处于规定位置，调整起来也较为繁琐；

（2）由于结构复杂，前期的设备加工和安装费时费力，并且费用也较高；

（3）考虑到尽量减小测试设备自身对场环境的影响，多数专利中提供的测试设备一般为尼龙或聚四氟乙烯材料。但实际上即使采用上述材料，其材料本身对辐射场环境也有一定的影响，特别是在室外测试中，由于环境影响若导致测试设备出现潮湿等现象时，测试设备对辐射场的影响更为严重和明显；