[发明专利]一种简易的场均匀性测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种简易的场均匀性测试装置，其特征在于包括一对固定夹具（1）、探头（6）以及四个定滑轮（2），其中两个定滑轮（2）分别固定于一对固定夹具（1）上，另外两个定滑轮（2）分别通过两个固定柱（4）与地面（15）固定，一对所述固定夹具（1）设置于辐射天线支撑架上，四个所述定滑轮（2）由牵引线（3）依次穿过，牵引线（3）两端由靠近地面的两个定滑轮（2）紧固绷紧，位于固定夹具（1）上两个定滑轮（2）之间的牵引线（3）中段通过定滑轮固定线（8）悬挂小定滑轮（18），所述小定滑轮（18）由托盘牵引线（9）穿过，托盘牵引线（9）一端悬挂探头托盘（5），另一端通过一个单独的固定柱（4）与地面（15）固定，所述探头托盘（5）内中心位置设置探头（6）；所述辐射天线支撑架上设置多组所述测试装置，测试装置中的牵引线（3）布置方向与辐射天线（13）垂直，且牵引线（3）带动探头（6）在辐射天线支撑架间沿着牵引线（3）无障碍移动。

2.根据权利要求1所述的一种简易的场均匀性测试装置，其特征在于所述固定夹具（1）为空心半圆柱形的两片尼龙板对称扣合而成，形成的空心圆柱与辐射天线支撑架固定，所述尼龙板的下端通过固定螺丝（16）以及定滑轮支撑板（17）与定滑轮（2）连接。

3.一种场均匀性测试测试方法，其特征在于所述测试方法基于权利要求1所述的测试装置，包括如下步骤：

步骤（1），对模拟器辐射场环境进行模拟，初步确定均匀区域大小；

步骤（2），考虑辐射场模拟器结构对称性、均匀区域分布一般规律和步骤（1）中的仿真结果，实际测试中以平行段正中心为中心点划定立方体区域，并以沿辐射场传播方向为对称面，拟定预测试点位置，并考虑测试装置的移动方便性，对测试点位置进行顺序编号；

步骤（3），安装三组场均匀性测试装置，一组安装在中心位置，一探头固定放置在立方体区域中心，第二组安装在立方体区域前方平面，第三组安装在立方体区域后方平面；

步骤（4）按照步骤（2）中预定的测试点位置，将步骤（3）中对应的立方体区域前方平面一组测试装置的探头置于探头托盘中，通过调整牵引线以调整探头在宽度方向的位置，通过调整托盘牵引线以调整探头在高度方向的位置，最终完成此平面内所有拟测试点位置的场强；

步骤（5）将步骤（3）中对应的立方体区域中心位置平面一组测试装置的探头置于探头托盘中，采用步骤（4）相同的方法完成此平面内所有拟测试位置的场强；

步骤（6）将步骤（3）中对应的立方体区域后方平面一组测试装置的探头置于探头托盘中，采用步骤（4）相同的方法完成此平面内所有拟测试位置的场强；

步骤（7），综合比较分析步骤（4）~（6）所记录下的试验数据，分析确定辐射场均匀性能。

4.根据权利要求3所述的一种场均匀性测试测试方法，其特征在于所述步骤（3）中，固定放置在立方体区域中心的探头整个测试过程中位置不移动，作为标准测试结果。

5.根据权利要求3所述的一种场均匀性测试测试方法，其特征在于所述步骤（4）~（6）中，每个测试位置的重复试验次数不得少于3次。

6.根据权利要求3所述的一种场均匀性测试测试方法，其特征在于所述步骤（4）-（6）中，每个测试位置的场值以多次重复试验结果的平均值作为该测试位置的实测值。

7.根据权利要求3所述的一种场均匀性测试测试方法，其特征在于所述步骤（7）中，最终辐射场均匀性以不均匀度来表征，不均匀度计算时以测试区域内所有测试位置的平均值为参考，计算各个测试值与平均值偏差，计算公式为，为测试区域的平均值，为测试值，以计算得到的所有偏差的最高值作为测试区域场不均匀度。