[发明专利]一种抛光设备空气颗粒尘埃抽排装置及其对应的抽排方法在审

专利信息
申请号: 202010530488.4 申请日: 2020-06-11
公开(公告)号: CN111515865A 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 易德福 申请(专利权)人: 江西德义半导体科技有限公司
主分类号: B24B55/06 分类号: B24B55/06;B24B29/00
代理公司: 苏州国诚专利代理有限公司 32293 代理人: 杜丹盛
地址: 344000 江西省抚*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 抛光 设备 空气 颗粒 尘埃 装置 及其 对应 方法
【说明书】:

发明提供了一种抛光设备空气颗粒尘埃抽排装置,其确保将空气颗粒尘埃抽排出抛光机时、对抛光盘的划伤率低,提高沉底晶片抛光良品率。其包括抛光设备底座,所述抛光设备底座上布置有定盘转盘,所述定盘转盘上放置有陶瓷盘晶片载体,所述抛光设备底座通过上凸的弧板连接上部安装架,所述上部安装架上设置有若干个下露的抛光转盘,所述抛光转盘用于陶瓷盘晶片载体上的晶片的抛光,所述弧板上开设有至少一个抽排风口,每个所述抽排风口通过抽风管外接抽风动力装置,封闭原有的垂直抽排口。

技术领域

本发明涉及抛光机抽排装置的技术领域,具体为一种抛光设备空气颗粒尘埃抽排装置,本发明还提供了一种抛光设备空气颗粒尘埃的抽排方法。

背景技术

目前,市场上销售及实用的抛光机抽排装置,均设计为开口向上并垂直与抛光盘上方,且离工作台盘面约有0.4米高度距离,导致在抽排过程中无法达到有效的去除抛光盘上空气中颗粒,在抽排过程中,颗粒聚集在抽排风口,由抽排风口进入排风管道被排出,较大的颗粒通过抛光中的水的张力附着,增加了空气中颗粒的重量造成失重掉落在抛光盘上,引起抛光过程中划伤不良,影响衬底晶片抛光良品率。

发明内容

针对上述问题,本发明提供了一种抛光设备空气颗粒尘埃抽排装置,其确保将空气颗粒尘埃抽排出抛光机时、对抛光盘的划伤率低,提高沉底晶片抛光良品率。

一种抛光设备空气颗粒尘埃抽排装置,其特征在于:其包括抛光设备底座,所述抛光设备底座上布置有定盘转盘,所述定盘转盘上放置有陶瓷盘晶片载体,所述抛光设备底座通过上凸的弧板连接上部安装架,所述上部安装架上设置有若干个下露的抛光转盘,所述抛光转盘用于陶瓷盘晶片载体上的晶片的抛光,所述弧板上开设有至少一个抽排风口,每个所述抽排风口通过抽风管外接抽风动力装置,封闭原有的垂直抽排口。

其进一步特征在于:所述弧板上关于弧板的中垂面对称排布有两个抽排风口;

每个所述抽排风口的高度位置高于所述定盘转盘的上表面20mm~40mm;

每根所述抽风管的内端贯穿所述抽排风口后固定、并距离所述定盘转盘的对应表面的水平距离为25mm~35mm;

优选地,每根所述抽风管的内端距离所述定盘转盘的对应表面的水平距离为30mm;

所述抛光设备底座相对于所述定盘转盘的前端面设置有翻转挡板,所述可翻转挡板上设置有透明观察窗,当进行抛光时、翻转挡板处于关闭状态、使得整个抛光在封闭环境中进行,且通过抽风动力装置将空气颗粒尘埃抽排出抛光机,当需要取放衬底晶片时、打开翻转挡板、放入对应的空气,取放衬底晶片,其放入的空气量确保单次抽排的顺次进行。

一种抛光设备空气颗粒尘埃的抽排方法,其特征在于:改变抽排系统抽排位置,将抽排风口位改装在定盘转盘的侧面区域,抽排风口水平距离定盘转盘的对应处最外侧位置保持25mm~35mm,将原有的垂直抽排口封闭。

其进一步特征在于:

两个抽排风口布置在弧板的两侧对应区域上,每根抽风管的内端贯穿所述抽排风口后固定、并距离所述定盘转盘的对应表面的水平距离为25mm~35mm;

每个所述抽排风口的高度位置高于所述定盘转盘的上表面20mm~40mm。

采用上述技术方案后,后弧板上开设有至少一个抽排风口,每个所述抽排风口通过抽风管外接抽风动力装置,封闭原有的垂直抽排口,其使排风更符合空气流体力学,更容易抽离5.0μm以上颗粒,并降低空气中颗粒失重掉落在定盘上引起的划伤问题;其确保将空气颗粒尘埃抽排出抛光机时、对抛光盘的划伤率低,提高沉底晶片抛光良品率。

附图说明

图1为本发明的主视图结构示意简图;

图2为本发明的侧视图结构示意简图;

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