[发明专利]工件表面质量的检测方法及检测装置、外观机

权利要求书

1.一种工件表面质量的检测方法，其特征在于，包括：

将工件的待检测面划分为多个待检测区域，每个所述待检测区域对应一个预设的检测缺陷阈值；所述待检测面经由至少两次切割工艺成型，根据所述至少两次切割工艺的切割刀痕对待检测面进行初步的多检测区域划分，再通过待检测面的检测图像的灰阶值将所述待检测面划分为所述多个待检测区域；

分别获取每个所述待检测区域的第一检测图像，具体包括：预先设置多组不同的同轴光，每组所述同轴光对应一个所述待检测区域；分别利用所述多组同轴光照射对应的所述待检测区域；分别获取每个所述待检测区域的所述第一检测图像；

根据每个所述待检测区域的所述第一检测图像以及对应的所述检测缺陷阈值，确定所述待检测面的质量。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述通过待检测面的检测图像的灰阶值将所述待检测面划分为所述多个待检测区域，包括：

获取所述待检测面的第二检测图像；

识别所述第二检测图像中各位置区域处的灰阶值；

将所述各位置区域处的灰阶值分别与预设的多个区域划分阈值进行比较，并根据比较结果将所述待检测面划分为所述多个待 检测区域。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述获取所述待检测面的第二检测图像，包括：

先利用一组同轴光照射所述待检测面，之后获取所述待检测面的所述第二检测图像。

4.根据权利要求1至3任一项所述的检测方法，其特征在于，所述根据每个所述待检测区域的所述第一检测图像以及对应的所述检测缺陷阈值，确定所述待检测面的质量，包括：

分别识别每个所述待检测区域的所述第一检测图像的检测灰阶值；

分别将每个所述待检测区域的检测灰阶值与对应的检测缺陷阈值进行比较，若所述检测灰阶值超出所述检测缺陷阈值，则判定对应的所述待检测区域存在缺陷，并输出报警。

5.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储单元，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，能使得所述一个或多个处理器实现根据权利要求1至4中任意一项所述的检测方法。

6.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时能实现根据权利要求1至4中任意一项所述的检测方法。