[发明专利]一种继电器触点寿命检测系统及其检测方法

权利要求书

1.一种继电器触点寿命检测系统,其特征在于：设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件，

监测控制装置，用于监测被测继电器的开合状态，还用于采集检测数据，并进行被测继电器的被测触点K0的开合时间控制；

I/O扩展板装置，用于实现对被测继电器进行开合控制，还对接触器装置进行开合控制；

接触器装置，用于对负载组件中的不同负载进行投切；

负载组件，用于检测被测继电器的接通容量和断开容量；

被测继电器为单稳态继电器或者双稳态继电器；

还设置有用于监测流经被测触点K0电流的电流表、第一连接端子A1、第二连接端子A2、第三连接端子A3、第四连接端子A4、第五连接端子A5和第六连接端子A6，

第一连接端子A1和第二连接端子A2接入激励量，第一连接端子A1和第二连接端子A2、第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与I/O扩展板装置连接，第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与被测继电器连接，第五连接端子A5与监测控制装置和电流表连接，第六连接端子A6与监测控制装置和接触器装置连接；

所述被测继电器设置有被测线圈L0和被测触点K0，被测线圈L0的两端分别与第三连接端子A3和第四连接端子A4连接，被测触点K0分别与第五连接端子A5和第六连接端子A6可拆卸连接。

2.根据权利要求1所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述监测控制装置设置有微处理器U1、电阻R3、电阻R4、电阻R5和光耦U2，

微处理器U1的1脚与光耦U2的4脚连接，微处理器U1的1脚还串连接电阻R5与电源输入端VCC连接，光耦U2的1脚串连电阻R3与第五连接端子A5连接，光耦U2的1脚还串连接电阻R4与第六连接端子A6连接，光耦U2的2脚与第六连接端子A6连接，光耦U2的3脚接地。

3.根据权利要求2所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述I/O扩展板装置设置有第一继电器、第二继电器和第三继电器，第一继电器设置有触点K11和触点K12，触点K11的两端分别与第一连接端子A1和第三连接端子A3连接，触点K12的两端分别与第二连接端子A2和第四连接端子A4连接；

所述第二继电器设置有触点K21和触点K22，触点K21的两端分别与第二连接端子A2和第三连接端子A3连接，触点K22的两端分别与第一连接端子A1和第四连接端子A4连接；

所述第三继电器设置有触点K31，触点K31分别接触器装置和负载组件连接。

4.根据权利要求3所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述接触器装置设置有接触器线圈L3和触点K1,

所述负载组件设置有电阻R1、电阻R2、电感L1和电感L2，

接触器线圈L3的一端与第六连接端子A6连接，接触器线圈L3的另一端与触点K31的一端连接，触点K31的另一端串连电阻R2与电感L2的一端连接，触点K1的一端与触点K31的另一端连接，触点K1的另一端串连电阻R1与电感L1的一端连接，电感L1的另一端和电感L2的另一端分别串连电流表与第五连接端子A5连接。

5.根据权利要求4所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：还设置有电源模块和用于检测电源模块电压的电压表，电源模块的一端与触点K31的另一端连接，电源模块的另一端与第六连接端子A6连接，电压表的两端分别与电源模块连接；

还用于设置被测触点K0分合时间的触摸屏，触摸屏与监测控制装置连接；

当被测触点KO为常开触点时，触点K11、触点K12、触点K21、触点K22、触点K31和触点K1均为常开触点；

所述微处理器U1的型号为STM32F系列的32位ARM微控制器；

所述微处理器U1的内核为Cortex-M3；

电阻R1的电阻值为50欧，电感L1为2亨利，电阻R2的电阻值为1615欧，电感L2为65亨利，电阻R3的电阻值为50千欧，电阻R4的电阻值为680欧，光耦U2型号为PC817，电阻R5为10千欧的上拉电阻。