[发明专利]获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法、装置

说明书

本申请涉及一种获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取能量探测单元中预设的参考点的束流强度值和能量探测单元中每个像素点的信号强度值，然后根据参考点的束流强度值、每个像素点的信号强度值，以及根据能量探测单元与光束中心处于不同的相对位置处的亮场图像确定的且表示能量探测单元中不同像素点的束流强度之间关系的束流强度关系，确定每个像素点的束流强度值，进一步根据能量探测单元中每个像素点的束流强度值，计算得到能量探测单元中的束流形状，并基于束流形状确定能量探测单元响应特征，该方法能够更加准确地描绘束流形状及能量探测单元响应的特征。

技术领域

本申请涉及医疗技术领域，特别是涉及一种获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

在锥束计算机断层成像及其他图像相关功能中,常常需要描述出束流形状特征和能量探测单元响应特征，以便根据束流形状特征和能量探测单元响应特征重建图像。

现有获取束流形状特征和能量探测单元响应特征的方法，通常是大致可以分为两类,一类是使用水模从亮场图像中获取，另一类是通过条件假设从亮场图像中获取。其中，使用水模从亮场图像中获取的方法非常很耗时，因此，鉴于时间的有限，一般在锥形束计算机断层成像系统(Cone-BeamComputerizedTomog raphy，CBCT)的相关应用中，通过某些假设从亮场图像中获取的方法比较常使用。然而，通过某些假设从亮场图像中获取束流形状特征和EPID(Electronic p ortal imaging device)响应特征的准确性较低，会出现误差，进而导致在根据束流形状特征和能量探测单元响应特征重建图像中会引入伪影。

因此，现有技术中缺乏一种有效地描绘束流形状及能量探测单元响应的特征的方法。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够有效地描绘束流形状及能量探测单元响应的特征的获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法、装置、计算机设备和存储介质。

第一方面，本申请提供一种获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法，该方法包括：

获取能量探测单元中预设的参考点的束流强度值、以及能量探测单元中每个像素点的信号强度值；参考点为在能量探测单元中选取的任意一个像素点；

根据参考点的束流强度值、每个像素点的信号强度值、束流强度关系，确定每个像素点的束流强度值；束流强度关系为根据能量探测单元与光束中心处于不同的相对位置处的亮场图像确定的、且表示能量探测单元中不同像素点的束流强度之间的关系；

根据能量探测单元中每个像素点的束流强度值，计算得到能量探测单元中的束流形状，并基于束流形状确定能量探测单元响应特征。

在其中一个实施例中，在上述计算得到能量探测单元中的束流形状之前，该方法还包括：

获取强度变化关系；强度变化关系表示不同光束照射强度下的各像素点多次递归后束流强度的相对关系；

基于强度变化关系，获取能量探测单元中两个对称像素点的束流强度之间的比率；

根据能量探测单元中两个对称像素点的束流强度之间的比率，对能量探测单元中各像素点的束流强度值进行校正。

在其中一个实施例中，上述根据参考点的束流强度值、每个像素点的信号强度值、束流强度关系，确定每个像素点的束流强度值，包括：

根据参考点的束流强度值、每个像素点的信号强度值、束流强度关系，获取与参考点相距预设距离的第一像素点的束流强度值；

对参考点和第一像素点之间间隔的像素点进行平滑插值，得到参考点和第一像素点之间各像素点的束流强度值；