[发明专利]获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法、装置

权利要求书

1.一种获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取能量探测单元中预设的参考点的束流强度值、以及所述能量探测单元中每个像素点的信号强度值，所述参考点为在能量探测单元中选取的任意一个像素点；

根据所述参考点的束流强度值、所述每个像素点的信号强度值、束流强度关系，确定每个所述像素点的束流强度值；所述束流强度关系为根据能量探测单元与光束中心处于不同的相对位置处的亮场图像确定的、且表示所述能量探测单元中不同像素点的束流强度之间的关系；

根据所述能量探测单元中每个像素点的束流强度值，计算得到所述能量探测单元中的束流形状，并基于所述束流形状确定所述能量探测单元响应特征。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述计算得到所述能量探测单元中的束流形状之前，所述方法还包括：

获取强度变化关系；所述强度变化关系表示不同光束照射强度下的各像素点多次递归后束流强度的相对关系；

基于所述强度变化关系，获取所述能量探测单元中两个对称像素点的束流强度之间的比率；

根据所述能量探测单元中两个对称像素点的束流强度之间的比率，对所述能量探测单元中各所述像素点的束流强度值进行校正。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考点的束流强度值、所述每个像素点的信号强度值、束流强度关系，确定每个所述像素点的束流强度值，包括：

根据所述参考点的束流强度值、所述每个像素点的信号强度值、所述束流强度关系，获取与所述参考点相距预设距离的第一像素点的束流强度值；

对所述参考点和所述第一像素点之间间隔的像素点进行平滑插值，得到所述参考点和所述第一像素点之间各像素点的束流强度值；

以所述参考点和所述第一像素点之间各像素点的束流强度值为起点，根据所述束流强度关系，递归出所述能量探测单元中其他的像素点的束流强度值，得到所述每个像素点的束流强度值。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考点的束流强度值、所述每个像素点的信号强度值、束流强度关系，确定每个所述像素点的束流强度值，包括：

根据所述参考点的束流强度值、所述每个像素点的信号强度值、所述束流强度关系，获取与所述参考点相距预设距离的第一像素点的束流强度值；

对所述参考点和所述第一像素点之间间隔的像素点进行平滑插值，得到所述参考点和所述第一像素点之间各像素点的束流强度值；

以所述参考点和所述第一像素点之间各像素点的束流强度值为起点，根据所述束流强度关系，递归出所述能量探测单元中其他的像素点的束流强度值，得到所述每个像素点的束流强度值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定每个所述像素点的束流强度值之前，所述方法还包括：

获取所述能量探测单元置于所述光束中心的不同位置时的亮场图像；

根据获取的亮场图像，获取各所述亮场图像中像素点的信号强度、能量探测单元响应、束流强度之间的对应关系；

根据各所述亮场图像中像素点的信号强度、能量探测单元响应、束流强度之间的对应关系，获取所述束流强度关系。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述亮场图像的获取方式包括：在所述能量探测单元相对于光束正中心的位置采集、在所述能量探测单元相对于光束正中心并沿能量探测单元的X方向平移所述预设距离后采集、以及在所述能量探测单元相对于光束正中心沿能量探测单元Y方向平移所述预设距离后采集。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述束流形状确定所述能量探测单元响应特征，包括：

基于所述束流形状，确定任一亮场图像中像素点的束流强度值；

根据所述任一亮场图像中像素点的束流强度值，以及所述像素点的信号强度、能量探测单元响应、束流强度之间的对应关系，确定所述能量探测单元响应特征。