[发明专利]一种适用于激光测距机自检的出光检测电路

说明书

本发明提供一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，包括MCU最小系统和MCU控制电路，还包括光信号检测电路，所述的光信号检测电路、MCU最小系统以及MCU控制电路依次连接，其中，光信号检测电路对激光测距机的发射模块进行实时检测，并随发射模块出光而产生相应的数字信号并反馈至MCU最小系统，MCU最小系统接收到数字信号后通过MCU控制电路驱动计时器开始计时，设计合理，且各个模块和电路相互配合，逻辑紧密，响应高效、快速，自适应能力强，从而可提高脉冲式激光测距的精度，减少因检测出光信号不及时而造成的测距精度较低的问题。

技术领域

本发明属于激光光电技术领域，具体涉及一种适用于激光测距机自检的出光检测电路。

背景技术

激光测距的方式分为脉冲式激光测距和相位式激光测距，脉冲式激光测距具有测试距离远，信号处理简单的优点。传统脉冲式激光测距的工作原理是：由激光器对被测目标发射一个光信号，然后接收目标反射回来的光信号，通过测量光信号往返经过的时间，计算出目标的距离。

脉冲式激光测距主要包括激光发射模块、激光接收模块、计数模块以及电源模块。激光发射模块发射激光并开始计数，接收到回波终止计数，这时就需要一个有效的出光检测电路来检测激光器何时出光。目前市场上大部分激光检测电路的检测结果都不太好，检测出的信号大小、时间不一，并且模数转换速度较慢，故而造成激光测距精度较差。

发明内容

鉴于现有出光检测电路对激光器出光检测的反应能力较差，本发明提供一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，以提高脉冲式激光测距的精度，减少因检测出光信号不及时而造成的测距精度较低的问题。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，包括MCU最小系统和MCU控制电路，还包括光信号检测电路，所述的光信号检测电路、MCU最小系统以及MCU控制电路依次连接，其中，光信号检测电路对激光测距机的发射模块进行实时检测，并随发射模块出光而产生相应的数字信号并反馈至MCU最小系统，MCU最小系统接收到数字信号后通过MCU控制电路驱动计时器开始计时；

所述光信号检测电路包括运算放大器U1、光敏二极管D1、电阻R1、电阻R2、电阻R4、电阻R5、电阻R6以及电容C1，运算放大器U1的1脚经电阻R4连接至MCU最小系统，运算放大器U1的4脚接地，运算放大器U1的3脚经电阻R5后分为两条支路，其中一条支路经电阻R6接地，另一条支路经光敏二极管D1连接驱动电压且电阻R5与光敏二极管D1的正极直接相连，运算放大器U1的8脚连接至供电电压且运算放大器U1的8脚与2脚之间串接有电阻R2，电阻R2的两端分别与电阻R1和电容C1相连后共同接地。

进一步的，所述MCU最小系统采用STM32系列单片机。

进一步的，所述MCU最小系统的5脚和6脚共同与晶振Y1相连后接地。

进一步的，所述MCU最小系统的5脚和6脚还分别与电容C4和电容C3相连后接地。

进一步的，所述MCU最小系统的7脚为复位端口，MCU最小系统的1脚用于连接供电电压。

进一步的，所述供电电压为+3.3V，驱动电压为+20V。

进一步的，所述MCU最小系统分别连接有调试接口、ARM去耦电容。

进一步的，所述运算放大器U1的型号为LM2904DR2G。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明的光信号检测电路对激光测距机的发射模块进行实时检测，并随发射模块出光而产生相应的数字信号并反馈至MCU最小系统，MCU最小系统接收到数字信号后通过MCU控制电路驱动计时器开始计时，设计合理，且各个模块和电路相互配合，逻辑紧密，响应高效、快速，自适应能力强，从而可提高脉冲式激光测距的精度，减少因检测出光信号不及时而造成的测距精度较低的问题。

附图说明