[发明专利]一种适用于激光测距机自检的出光检测电路

权利要求书

1.一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，包括MCU最小系统和MCU控制电路，其特征在于：还包括光信号检测电路，所述的光信号检测电路、MCU最小系统以及MCU控制电路依次连接，其中，光信号检测电路对激光测距机的发射模块进行实时检测，并随发射模块出光而产生相应的数字信号并反馈至MCU最小系统，MCU最小系统接收到数字信号后通过MCU控制电路驱动计时器开始计时；

所述光信号检测电路包括运算放大器U1、光敏二极管D1、电阻R1、电阻R2、电阻R4、电阻R5、电阻R6以及电容C1，运算放大器U1的1脚经电阻R4连接至MCU最小系统，运算放大器U1的4脚接地，运算放大器U1的3脚经电阻R5后分为两条支路，其中一条支路经电阻R6接地，另一条支路经光敏二极管D1连接驱动电压且电阻R5与光敏二极管D1的正极直接相连，运算放大器U1的8脚连接至供电电压且运算放大器U1的8脚与2脚之间串接有电阻R2，电阻R2的两端分别与电阻R1和电容C1相连后共同接地。

2.根据权利要求1所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述MCU最小系统采用STM32系列单片机。

3.根据权利要求2所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述MCU最小系统的5脚和6脚共同与晶振Y1相连后接地。

4.根据权利要求3所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述MCU最小系统的5脚和6脚还分别与电容C4和电容C3相连后接地。

5.根据权利要求4所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述MCU最小系统的7脚为复位端口，MCU最小系统的1脚用于连接供电电压。

6.根据权利要求5所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述供电电压为+3.3V，驱动电压为+20V。

7.根据权利要求6所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述MCU最小系统分别连接有调试接口、ARM去耦电容。

8.根据权利要求7所述的一种适用于激光测距机自检的出光检测电路，其特征在于：所述运算放大器U1的型号为LM2904DR2G。