[发明专利]镜头杂光测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010466537.2 申请日: 2020-05-28
公开(公告)号: CN111610003B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 宋文宝;史柴源 申请(专利权)人: 歌尔光学科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 王迎;袁文婷
地址: 261000 山东省潍坊市潍城区高新*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 镜头 测试 装置 方法
【说明书】:

发明提供一种镜头杂光测试装置及方法,其中的装置包括测试系统、与测试系统连接的显示屏幕和探测器,以及设置在显示屏幕和探测器之间的成像镜头;其中,待测试镜头设置在成像镜头和显示屏幕之间,探测器设置在成像镜头远离待测试镜头的一侧,显示屏幕发出的光线依次经过待测试镜头、成像镜头后,到达探测器;测试系统用于控制显示屏幕的发光区域,以在显示屏幕上形成测试区域,在探测器上形成与测试区域对应的成像区域;根据成像区域的照度变化,确定待测试镜头在测试区域的杂光系数。利用上述发明能够简单、快速的实现对逆成像类镜头的杂光测试作业,镜头测试准确度高、适用范围广。

技术领域

本发明涉及光学产品测试技术领域,更为具体地,涉及一种镜头杂光测试装置及方法。

背景技术

目前,在手机镜头、安防摄像头等光学产品中普遍存在杂光的现象,杂光主要是由于环境中各个角度的光线在镜头的镜片、镜筒内表面、隔圈等结构中进行折射、反射等光路活动而产生的,其不仅影响镜头的成像品质,严重情况下还会影响用户体验。

为此,在光学镜头生产或者出厂时,会先进行杂光检测,获取镜头的杂光系数,杂光系数是评价光学镜头杂光抑制性能的一个重要指标,现有杂光系数的测试方法大多针对摄影镜头等正向成像镜头,对于AR、VR等逆成像类投影镜头杂光系数的测试方法较少,要么直接采用肉眼检测,要么测试装置过于繁琐、测试过程复杂。

为此,目前亟需一种能够简单、快速地对逆成像类镜头进行杂光系数检测的测试装置及方法。

发明内容

鉴于上述问题,本发明的目的是提供一种镜头杂光测试装置及方法,以解决目前采用肉眼或特殊装置进行杂光测试存在的测试精度低或者测试装置繁琐、过程复杂等问题。

本发明提供的镜头杂光测试装置,包括测试系统、与测试系统连接的显示屏幕和探测器,以及设置在显示屏幕和探测器之间的成像镜头;其中,待测试镜头设置在成像镜头和显示屏幕之间,探测器设置在成像镜头远离待测试镜头的一侧,显示屏幕发出的光线依次经过待测试镜头、成像镜头后,到达探测器;测试系统用于控制显示屏幕的发光区域,以在显示屏幕上形成测试区域,在探测器上形成与测试区域对应的成像区域;根据成像区域的照度变化,确定待测试镜头在测试区域的杂光系数。

此外,优选的技术方案是,成像镜头的视场角不小于待测试镜头的视场角,和/或者成像镜头的入瞳与待测试镜头的出瞳相匹配。

此外,优选的技术方案是,待测试镜头为像方远心镜头。

此外,优选的技术方案是,测试区域为规则多边形或者圆形。

此外,优选的技术方案是,测试区域在显示屏幕上呈均匀分布状态;或者,测试区域分布在显示屏幕的四个角部位置和中心位置。

此外,优选的技术方案是,测试区域的边长或直径为显示屏幕的边长的8%~12%。

此外,优选的技术方案是,探测器为CCD或CMOS。

此外,优选的技术方案是,待测试镜头为AR投影镜头或者VR投影镜头。

此外,优选的技术方案是,显示屏幕为待测试镜头的自带屏幕。

根据本发明的另一方面,提供一种镜头杂光测试方法,利用上述镜头杂光测试装置对待测试镜头进行杂光测试,方法包括:通过测试系统控制显示屏幕的测试区域不发光,并读取探测器上的成像区域的第一照度;控制显示屏幕的整个区域发光,再次读取探测器上的成像区域的第二照度;根据第一照度和第二照度确定待测试镜头在测试区域的杂光系数。

利用上述镜头杂光测试装置及方法,通过测试系统控制显示屏幕上的测试区域的发光情况,进而在探测系统上形成与测试区域对应的成像区域,并在调整测试区域的发光状态时,获取成像区域的照度变化,进而确定待测试镜头在测试区域的杂光系数,可实现对逆成像镜头的杂光系数测试,装置结构简单、测试精度高、速度快。

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