[发明专利]镜头杂光测试装置及方法

权利要求书

1.一种镜头杂光测试装置，其特征在于，置于暗室或者暗箱中进行测试，所述镜头杂光测试装置包括测试系统、与所述测试系统连接的显示屏幕和探测器，以及设置在所述显示屏幕和所述探测器之间的成像镜头；其中，

待测试镜头为逆成像镜头，所述待测试镜头设置在所述成像镜头和所述显示屏幕之间，所述探测器设置在所述成像镜头远离所述待测试镜头的一侧，所述显示屏幕发出的光线依次经过所述待测试镜头、所述成像镜头后，到达所述探测器；

所述测试系统用于控制所述显示屏幕的发光区域，以在所述显示屏幕上形成测试区域，在所述探测器上形成与所述测试区域对应的成像区域，所述测试区域的位置或者形状通过所述测试系统进行控制及调节；其中，

所述测试区域在所述显示屏幕上呈均匀分布状态；或者，所述测试区域分布在所述显示屏幕的四个角部位置和中心位置；并且，

所述测试区域的边长或直径为所述显示屏幕的边长的8％～12％；

根据所述成像区域的照度变化，确定所述待测试镜头在所述测试区域的杂光系数。

2.如权利要求1所述的镜头杂光测试装置，其特征在于，

所述成像镜头的视场角不小于所述待测试镜头的视场角，和/或者所述成像镜头的入瞳与所述待测试镜头的出瞳相匹配。

3.如权利要求1所述的镜头杂光测试装置，其特征在于，

所述待测试镜头为像方远心镜头。

4.如权利要求1所述的镜头杂光测试装置，其特征在于，

所述测试区域为规则多边形或者圆形。

5.如权利要求1所述的镜头杂光测试装置，其特征在于，

所述探测器为CCD或CMOS。

6.如权利要求1所述的镜头杂光测试装置，其特征在于，

所述待测试镜头为AR投影镜头或者VR投影镜头。

7.如权利要求1所述的镜头杂光测试装置，其特征在于，

所述显示屏幕为所述待测试镜头的自带屏幕。

8.一种镜头杂光测试方法，其特征在于，利用如权利要求1至7任一项所述的镜头杂光测试装置对待测试镜头进行杂光测试，所述方法包括：

通过测试系统控制显示屏幕的测试区域不发光，并读取探测器上的成像区域的第一照度；

控制所述显示屏幕的整个区域发光，再次读取所述探测器上的成像区域的第二照度；

根据所述第一照度和所述第二照度确定所述待测试镜头在所述测试区域的杂光系数。