[发明专利]一种适应行周期实时变化的串行CMOS图像数据训练方法

说明书

一种适应行周期实时变化的串行CMOS图像数据训练方法，涉及CMOS图像数据的训练方法，解决现有CMOS图像数据训练方法无法满足线阵TDI探测器推扫成像的连续行周期调整应用要求的问题，包括CMOS数据训练系统，主要包含CMOS图像传感器和数据处理器两部分组成。数据处理器内部包含iodelay1、iserdes1、数据异步FIFO、控制异步FIFO、gearbox、ram based shifer和控制器组成。控制器作为CMOS数据训练系统的核心，控制各部分协调工作。CMOS图像传感器在控制器的控制下，输出串行图数据经iodelay1、iserdes1、数据异步FIFO、gearbox、ram based shifer最终转换为位宽p的并行图像数据。本发明提出基于可控移位寄存器的改进训练方法，保证单脉冲训练字的正确性，同时保证行周期的连续可调性。

技术领域

本发明涉及一种CMOS图像数据的训练方法，具体涉及一种适应行周期实时变化的串行CMOS图像数据训练方法。

背景技术

现今高分辨率(不低于10k)高行频(不低于20kHz)的TDICMOS图像传感器，通常采用多路(不低于20通道)高速串行通道进行图像数据的传输，各数据传输通道之间在每次上电无确定的相位关系，而且随环境温度的变化可能出现串并转换过程中每次截取的串行数据相对位置不同，给数据的串并转换带来很大的困难。直接采用如virtex 6等内部集成的ISERDES1模块，也不能满足高位宽应用要求，需要进行进一步的串并转换；可能在字校正过程中出现错误的数据位置组合得到正确的训练字，而在通道训练过程中无法得到正确的训练字。例如正确的训练字为AB，经过ISERDES1后得到的并行数据A和B，在进一步的串并转换后在字校正过程中可能出现的数据组合方式是ABABABABABAB….，也可能是BABABABABABA，在此两种组合过程中都包含有正确的训练字AB；而在通道训练过程中对应单个训练脉冲，前一种组合方式得到的并行数据为…00,00,AB,00,00…，也包含有正确的训练字AB；而后一种组合方式得到的并行数据为…0,00,0B,A0,00,0…，未包含有正确的训练字AB，通道训练总会失败。授权专利《一种基于交替变换脉冲的CMOS图像数据的训练方法》能解决上述问题，但仅能适应行周期为像素时钟偶数倍的应用场合如面阵探测器的读出，但不适合线阵TDI探测器推扫成像的连续行周期调整应用要求。

发明内容

本发明为解决现有CMOS图像数据训练方法无法满足线阵TDI探测器推扫成像的连续行周期调整应用要求的问题，提供一种适应行周期实时变化的串行CMOS图像数据训练方法。

一种适应行周期实时变化的串行CMOS图像数据训练方法，数据校正包括控制信号train为固定高电平的位校正，控制信号train为固定高电平的字校正，控制信号train为单脉冲宽度的通道校正和数据校正完成状态；

控制信号train为固定高电平的位校正完成后直接进入控制信号train为固定高电平的字校正；字校正成功后，直接从控制信号train为固定高电平的字校正进入控制信号train为单脉冲宽度的通道校正；

首次通道校正失败，从控制信号train为单脉冲宽度的通道校正进入控制信号train为固定电平的字校正，控制信号bitslip_swap取反，同时对字校正的正确和错误次数进行清零；第二次通道校正失败，则从控制信号train为单脉冲宽度的通道校正进入数据校正完成状态；

所述字校正的具体过程为：

步骤一、经iserdes1输出的p/2位的并行数据data_in首先经过可控延迟器输出并行数据data_t1，控制信号为bitslip_swap，当bitslip_swap为低电平时输出无延迟；当bitslip_swap为高电平时输出有延迟，输出的并行数据data_t1相对并行数据data_in延迟1/2个像素时钟周期，即宽度为