[发明专利]倒装发光二极管芯片及其制作方法有效
| 申请号: | 202010436890.6 | 申请日: | 2020-05-21 |
| 公开(公告)号: | CN111769190B | 公开(公告)日: | 2022-01-14 |
| 发明(设计)人: | 兰叶;黄磊;张威;吴志浩;李鹏 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(浙江)有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/62 | 分类号: | H01L33/62;H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 吕耀萍 |
| 地址: | 322000 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 倒装 发光二极管 芯片 及其 制作方法 | ||
本公开提供了一种倒装发光二极管芯片及其制作方法,属于半导体技术领域。所述倒装发光二极管芯片包括衬底、N型半导体层、有源层、P型半导体层、反射电极、连接电极、绝缘介质层、P型焊盘和N型焊盘;所述P型焊盘和所述N型焊盘均包括多个周期的复合层和层叠在所述复合层上的焊接层,每个周期的所述复合层包括Ti层和层叠在所述Ti层上的Al层,所述焊接层为AuSn合金层,所述焊接层中Au组分的含量为64%~68%。本公开通过在多个由Ti层和层叠在Ti层上的Al层组成的复合层上增设焊接层形成N型焊盘和P型焊盘可以在不损坏芯片的情况下采用N型焊盘和P型焊盘进行焊接,避免由于焊接材料越过焊接区域而导致漏电。
技术领域
本公开涉及半导体技术领域,特别涉及一种倒装发光二极管芯片及其制作方法。
背景技术
发光二极管(英文:Light Emitting Diode,简称:LED)是一种常用的发光器件,通过电子与空穴复合释放能量发光,可以高效地将电能转化为光能。LED的心脏是芯片,LED芯片的结构包括正装、倒装和垂直。
相关技术中,倒装LED芯片包括衬底、N型半导体层、有源层、P型半导体层、透明导电层、透明反射层、反射电极、连接电极、绝缘层、N型焊盘和P型焊盘。N型半导体层、有源层和P型半导体层依次层叠在衬底上,P型半导体层上设有延伸至N型半导体层的凹槽。透明导电层、透明反射层和反射电极依次层叠在P型半导体层上,透明反射层内设有延伸至透明导电层的通孔,反射电极设置在通孔内与透明导电层接触并铺设在透明反射层上。连接电极设置在凹槽内的N型半导体层上。绝缘层铺设在凹槽内和反射电极上,绝缘层上设有延伸至连接电极的N型连通孔和延伸至反射电极的P型连通孔,N型焊盘设置在N型连通孔内与连接电极接触并铺设在绝缘层上,P型焊盘设置在P型连通孔内与反射电极接触并铺设在绝缘层上,N型焊盘和P型焊盘在绝缘层上间隔设置。其中,N型焊盘和P型焊盘均包括交替层叠的(n+1)个Ti层和n个Al层、以及层叠在所有Ti层上的Au层,n为正整数。
在实现本公开的过程中,发明人发现相关技术至少存在以下问题:
Ti、Al和Au均为高熔点材料,高温熔化N型焊盘和P型焊盘进行焊接会导致芯片损坏,需要额外使用熔点较低的锡膏或者金锡片将N型焊盘和P型焊盘焊接在电路板上。但是随着芯片尺寸的减小和电路板集成度的提高,N型焊盘和P型焊盘在电路板上的焊接区域越来越小,锡膏或者金锡片在焊接过程中很容易越过焊接区域,影响到电路板的绝缘而出现漏电的问题。
发明内容
本公开实施例提供了一种倒装发光二极管芯片及其制作方法,可以在不损坏芯片的情况下采用N型焊盘和P型焊盘进行焊接,有利于将焊接材料限定在电路板上的焊接区域内,避免由于焊接材料越过焊接区域而导致漏电。所述技术方案如下:
一方面,本公开实施例提供了一种倒装发光二极管芯片,所述倒装发光二极管芯片包括衬底、N型半导体层、有源层、P型半导体层、反射电极、连接电极、绝缘介质层、P型焊盘和N型焊盘;
所述N型半导体层、所述有源层和所述P型半导体层依次层叠在所述衬底上,所述P型半导体层上设有延伸至所述N型半导体层的凹槽;所述连接电极设置在所述凹槽内的N型半导体层上,所述反射电极设置在所述P型半导体层上;所述绝缘介质层铺设在所述凹槽内和所述反射电极上,所述绝缘介质层内分别设有延伸至所述反射电极的P型连通孔和延伸至所述连接电极的N型连通孔;所述P型焊盘设置在所述P型连通孔内与所述反射电极接触,并覆盖在所述P型连通孔周围的所述绝缘介质层上;所述N型焊盘设置在所述N型连通孔内与所述连接电极接触,并覆盖在所述N型连通孔周围的所述绝缘介质层上;
所述P型焊盘和所述N型焊盘均包括多个周期的复合层和层叠在所述复合层上的焊接层,每个周期的所述复合层包括Ti层和层叠在所述Ti层上的Al层,所述焊接层为AuSn合金层,所述焊接层中Au组分的含量为64%~68%。
可选地,所述焊接层包括依次层叠的多个AuSn合金层,所述多个AuSn合金层中Au组分的含量沿远离所述复合层的方向逐渐减小。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华灿光电(浙江)有限公司,未经华灿光电(浙江)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010436890.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





