[发明专利]岩盐下伏地层构造上拉假象的校正方法及其应用在审

专利信息
申请号: 202010436339.1 申请日: 2020-05-21
公开(公告)号: CN113703043A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 吴采西 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 张美月
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 岩盐 伏地 构造上 假象 校正 方法 及其 应用
【说明书】:

发明提供了一种岩盐下伏地层构造上拉假象的校正方法。该校正方法包括:选取多个样本岩丘,并获取各样本岩丘的厚度时间以及与各样本岩丘对应的岩盐下伏地层的上拉时间;采用线性回归方程的方法,对样本岩丘的厚度时间及岩盐下伏地层的上拉时间进行拟合,获得校准曲线;根据校准曲线,对各目标岩丘对应的岩盐下伏地层上拉数据进行校正,得到各目标岩丘的构造图。采用上述方法对岩盐下伏地层构造上拉假象进行校正能够还原真实构造形态,并有效地提高盐岩下伏地层构造可靠性。

技术领域

本发明涉及地球物理勘探领域,具体而言,涉及一种岩盐下伏地层构造上拉假象的校正 方法及其应用。

背景技术

在盐岩地区,因盐岩与围岩间存在巨大速度差异,导致下伏地层地震反射同相轴出现上 拉假象。传统对盐岩下伏反射层上拉假象的校正是采用层位控制法及层速度计算替换充填建 速度场,根据工区实际VSP、AC、三维叠加速度,进行综合速度分析,确定合适的充填替换 速度来校正。但是在没有VSP的区域,无法求取合适的速度建立速度场,导致时深转换得到 的构造图可靠性低。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种岩盐下伏地层构造上拉假象的校正方法及其应用,以解 决现有的盐岩下伏反射层上拉假象的校正方法存在可靠性较低的问题。

为了实现上述目的,根据本发明的一个方面,提供了一种岩盐下伏地层构造上拉假象的 校正方法,校正方法包括:选取多个样本岩丘,并获取各样本岩丘的厚度时间以及与各样本 岩丘对应的岩盐下伏地层的上拉时间;采用线性回归方程的方法,对样本岩丘的厚度时间及 岩盐下伏地层的上拉时间进行拟合,获得校准曲线;根据校准曲线,对各目标岩丘对应的岩 盐下伏地层上拉数据进行校正,得到各目标岩丘的构造图。

进一步地,获取各样本岩丘的厚度时间的步骤包括:选取多个样本岩丘,并统计各样本 岩丘的盐丘顶的厚度时间和盐丘底的厚度时间;将样本岩丘的盐丘顶的厚度时间和盐丘底的 厚度时间的差值,作为各样本岩丘的厚度时间。

进一步地,校正步骤包括:获取各目标岩丘的盐丘顶的厚度时间和盐丘底的厚度时间; 计算各目标岩丘的厚度时间;将各目标岩丘的厚度时间依次代入校准曲线,以分别获取目标 岩丘对应的岩盐下伏地层的上拉时间的校准数据;根据校准数据,构造校正后的等T0图;根 据校正后的等T0图,构造各目标岩丘的构造图。

进一步地,构造各目标岩丘的构造图的步骤包括:根据各目标岩丘的厚度时间和对应的 层速度的乘积,获得各目标岩丘的深度;根据各目标岩丘的深度数据,构建各目标岩丘的构 造图。

进一步地,在获得各目标岩丘的深度数据后,构造各目标岩丘的构造图的步骤还包括: 对各目标岩丘进行分层误差统计,当误差≤1%时,根据各目标岩丘的深度数据,构建各目标 岩丘的构造图。

进一步地,在获得各目标岩丘的深度数据后,得到各目标岩丘的构造图还包括:对各目 标岩丘进行分层误差统计,当误差大于1%时,重新进行校准曲线的拟合步骤。

本申请的另一方面还提供了一种上述校正方法在石炭系岩层中的应用。

进一步地,石炭系岩层的埋藏深度>2000m,岩丘厚度为400~2000m。

应用本发明的技术方案,结合地质资料与物探资料,利用地质模式对地震资料进行合理 的解释,了解各目的层的沉积及构造特征;对盐丘顶底解释刻画,对工区各盐丘顶底进行统 计归纳,拟合计算提出线性回归方程;利用线性回归方程对盐岩下伏各解释层位进行校正, 校正了盐岩下伏地层构造上拉假象;构造成图,得到目标区各目的层等T0图,时深转换得到 目的层构造图,经实钻井验证,还原了真实构造形态,有效的提高了盐岩下伏地层构造可靠 性。

附图说明

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