[发明专利]一种基于硅通孔的三维集成电路布局方法有效

专利信息
申请号: 202010429586.9 申请日: 2020-05-20
公开(公告)号: CN111710644B 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 俞文心;程鑫;李镰江;江宁;何刚;刘畅 申请(专利权)人: 西南科技大学
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768
代理公司: 成都帝鹏知识产权代理事务所(普通合伙) 51265 代理人: 黎照西
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 硅通孔 三维集成电路 布局 方法
【权利要求书】:

1.一种基于硅通孔的三维集成电路布局方法,其特征在于,包括步骤:

第一步,对电路进行混合三维布局,获得粗略分层结果,同时产生硅通孔;

第二步,根据混合三维布局的结果进行混合二维布局,获得精确布局结果;

第三步,根据获得的精确布局结果,对宏单元进行合法化,减小宏单元与其他单元的重叠,然后固定宏单元;

第四步,对标准单元进行三维布局;

第五步,对标准单元进行二维布局;

第六步,完成三维集成电路的详细布局,获得最终优化布局结果。

2.根据权利要求1所述的一种基于硅通孔的三维集成电路布局方法,其特征在于,在第一步中,通过将标准单元以及宏单元进行混合三维布局,使原本在一层的单元进行分离,产生粗略的分层结果;同时因为有分层,所以间接产生出了硅通孔,并对硅通孔进行初始化。

3.根据权利要求2所述的一种基于硅通孔的三维集成电路布局方法,其特征在于,在第二步中,对第一步中分离出的每一层进行优化布局,其中布局对象包括宏单元、标准单元以及新产生的硅通孔。

4.根据权利要求3所述的一种基于硅通孔的三维集成电路布局方法,其特征在于,在第三步中,先对减少宏单元与自身以及其他单元间的重叠,然后宏单元固定位置,使布局中宏单元得到合法的最终位置。

5.根据权利要求4所述的一种基于硅通孔的三维集成电路布局方法,其特征在于,在第四步中,将标准单元在层间移动,进行标准单元的三维布局。

6.根据权利要求5所述的一种基于硅通孔的三维集成电路布局方法,其特征在于,在第五步中,单独地在每一层移动标准单元以及硅通孔进行布局,进行标准单元的二维布局。

7.根据权利要求6所述的一种基于硅通孔的三维集成电路布局方法,其特征在于,在第六步中,利用电路的现有详细布局,对第四步后所获得的布局结果进行合法化,产生最终优化布局结果,其中布局对象包括标准单元以及硅通孔。

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