[发明专利]一种IC芯片测试机的翻转上料装置

权利要求书

1.一种IC芯片测试机的翻转上料装置，其结构包括是油缸(1)、限位直杆(2)、门架(3)、芯片测试面板(4)、传送翻转装置(5)、支撑底架(6)、印标机(7)、印标槽(8)，其特征在于：

所述的支撑底架(6)底部设有印标机(7)，所述的印标机(7)上方设有印标槽(8)，所述的支撑底架(6)顶部设有传送翻转装置(5)，所述的传送翻转装置(5)上方设有门架(3)，所述的门架(3)顶部设有油缸(1)，所述的门架(3)下方设有芯片测试面板(4)，所述的芯片测试面板(4)两侧设有限位直杆(2)。

2.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试机的翻转上料装置，其特征在于：所述的传送翻转装置(5)由前传动滚辊(51)、定位外架(52)、芯片固定机构(53)、芯片翻转机构(54)、输送带(55)、后传动滚辊(56)、伸缩杆(57)组成，所述的定位外架(52)前后两端设有前传动滚辊(51)和后传动滚辊(56)，所述的前传动滚辊(51)和后传动滚辊(56)之间设有输送带(55)，所述的输送带(55)表面上排列有芯片固定机构(53)，所述的输送带(55)中心位置设有芯片翻转机构(54)，所述的定位外架(52)两侧设有伸缩杆(57)。

3.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试机的翻转上料装置，其特征在于：所述的芯片固定机构(53)由限位外框(53a)、固定内框(53b)、夹片(53c)、限位横杆(53d)、弹簧(53e)、从动轮(53f)、转轴(53g)组成，所述的限位外框(53a)内部设有固定内框(53b)，所述的固定内框(53b)两侧设有转轴(53g)，所述的转轴(53g)上设有从动轮(53f)，所述的固定内框(53b)内部设有夹片(53c)，所述的固定内框(53b)底部设有限位横杆(53d)，所述的限位横杆(53d)两端设有弹簧(53e)。

4.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试机的翻转上料装置，其特征在于：所述的芯片翻转机构(54)由传动带(54a)、侧架(54b)、滑块(54c)、外横槽(54d)、中心翻转辊(54e)、内横槽(54f)组成，所述的中心翻转辊(54e)上设有传动带(54a)，所述的传动带(54a)表面上设有外横槽(54d)，所述的传动带(54a)内壁上设有内横槽(54f)，所述的中心翻转辊(54e)两侧设有侧架(54b)，所述的侧架(54b)外圈上排列有滑块(54c)。

5.根据权利要求4所述的一种IC芯片测试机的翻转上料装置，其特征在于：所述的中心翻转辊(54e)由滑套(54e1)、卡条(54e2)、主动轮(54e3)、限位环(54e4)、转辊(54e5)组成，所述的转辊(54e5)中心位置设有主动轮(54e3)，所述的主动轮(54e3)一侧设有限位环(54e4)，所述的主动轮(54e3)外圈上分布有卡条(54e2)，所述的转辊(54e5)两端设有滑套(54e1)。

6.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试机的翻转上料装置，其特征在于：所述的后传动滚辊(56)由增阻层(56a)、传动轮(56b)、限位轮(56c)、滚辊(56d)、传动轴(56e)组成，所述的滚辊(56d)中心位置设有传动轴(56e)，所述的滚辊(56d)中段位置设有限位轮(56c)，所述的滚辊(56d)两端设有传动轮(56b)，所述的传动轮(56b)外壁上设有增阻层(56a)。

7.根据权利要求5所述的一种IC芯片测试机的翻转上料装置，其特征在于：所述的主动轮(54e3)和从动轮(53f)所组成的部件结构相同，所述的主动轮(54e3)通过卡条(54e2)与传动带(54a)的内横槽(54f)相配合，所述的传动带(54a)通过外横槽(54d)与从动轮(53f)外圈配合。

8.根据权利要求6所述的一种IC芯片测试机的翻转上料装置，其特征在于：所述的后传动滚辊(56)和前传动滚辊(51)所组成的部件结构相同，所述限位轮(56c)与同一侧的传动带(54a)的一端连接，所述的传动轮(56b)通过增阻层(56a)与输送带(55)相配合。