[发明专利]一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器

说明书

本发明公开了一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，该探针包括第一接触部、第一弹性部、联结部、第二弹性部和第二接触部；第一弹性部包括第一直线部、第一弯曲部和第二直线部；第一直线部沿与轴向方向垂直的方向上延伸且一端与第一接触部的另一端连接；第二直线部沿与轴向方向垂直的方向上延伸且一端与联结部连接；第一弯曲部呈类C形结构，其一端部与第一直线部连接，另一端部与第二直线部连接；第一直线部、第二直线部之间的距离小于第一弯曲部沿轴向方向上的最大内径；联结部用于连接第二直线部和第二弹性部；本发明提供的探针可在增大横截面积同时减小弹性部的弹力，防止探针及其接触对象因过大的弹力/夹持力而发生损坏。

技术领域

本发明属于信号传输及测试技术领域，更具体地，涉及一种适用于高速率信号传输、大电流测试使用环境的测试设备上使用的弹性扁平探针及连接器。

背景技术

在液晶面板、集成电路等电子部件的制造工序中需要对产品进行导通检测和动作特性检查，具体的检测方法是使用探针将与电子部件模块的主体基板连接的FPC接触电极或所安装的基板对基板连接器等电极部和检查装置连接起来，由此进行这些检测。

目前经常用的探针具有能够与电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子分别接触一对触头，以及一对触头之间连接的弹性部。探针通过弹性部确保触头与电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子之间的接触压力，提高针对电子部件的电极端子和被连接电子部件的电极端子的接触可靠性。除了接触可靠性这一指标之外，为了满足高速、大电流信号传输的使用要求，要求探针的导电电阻越小越好。

申请公布号CN111033273A的发明专利“探针、检查工具、检查单元和检查装置”，为了降低导通路径的电阻，对导通路径过长的蛇形状的弹性部进行了改进，其结构如图1所示，根据说明书0047段的记载，其通过削减弹性部的路径的长度并增大弹性部的路径的截面面积的方式来降低两个接触部之间的导通路径的电阻；毫无疑问，该弹性部结构确实能够有效降低探针的电阻，但与此同时，增大弹性部的路径的截面面积加之削减弹性部的路径长度将显著提高弹性部的弹力，在使用过程中，为了保证被测对象物与探针接触良好，配套的夹持结构需要提供较大的夹持力，很有可能会压坏被测对象。因此，在探针的结构设计过程中需要考虑弹性部的横截面积(导电电阻)与其提供的弹力之间的相对平衡，在增大横截面积以减小导电电阻提高过流能力的同时，减小弹性部的弹力，防止探针及其接触对象因过大的弹力/夹持力而发生损坏。

发明内容

针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本发明提供了一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器，其目的在于解决现有探针存在的增加横截面积且减小导通路径导致的探针弹力过大，容易损坏探针以及接触对象的问题。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种适用于大电流高速信号测试的探针，其第一接触部、第一弹性部、联结部、第二弹性部和第二接触部；

所述第一接触部的一端具有可与被测对象物的接触端子相匹配的第一触点部；所述第一弹性部可在受力时沿着探针的轴向方向上变形，包括配置于所述轴向方向的同一侧的第一直线部、第二弯曲部、第一弯曲部、第三弯曲部和第二直线部；

所述第一直线部沿与所述轴向方向垂直的方向上延伸且一端与所述第一接触部的另一端连接；所述第二直线部沿与所述轴向方向垂直的方向上延伸且一端与所述联结部连接；所述第一弯曲部呈类C形结构，其一端部通过第二弯曲部与第一直线部的另一端连接，另一端部通过第三弯曲部与第二直线部的另一端连接；

第一直线部、第二直线部之间的距离小于第一弯曲部沿轴向方向上的最大内径，第二弯曲部、第一弯曲部、第三弯曲部的曲率中心依次交替配置于第一弹性部的不同侧；

所述联结部沿轴向方向上延伸，用于连接第二直线部和第二弹性部；所述第二弹性部的一端从联结部的端部沿轴向方向上弯曲延伸，可在受力时沿着探针的轴向方向上伸缩；所述第二接触部配置于第二弹性部的另一端且具有至少一个第二触点部；