[发明专利]定位方法、装置、系统、电子设备及存储介质在审
| 申请号: | 202010413585.5 | 申请日: | 2020-05-15 |
| 公开(公告)号: | CN113671549A | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
| 发明(设计)人: | 翁多杰 | 申请(专利权)人: | 深圳市时空导航科技有限公司 |
| 主分类号: | G01S19/39 | 分类号: | G01S19/39;G01S19/07;G01S19/33;G01S19/12;G01S19/40;G01S19/42 |
| 代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 王政 |
| 地址: | 518000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 定位 方法 装置 系统 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种定位方法,其特征在于,包括:
针对第一参考站和第二参考站的各个共视卫星,获取所述第一参考站测量的所述共视卫星的第一伪距改正数,获取所述第二参考站测量的所述共视卫星第二伪距改正数;
计算各个共视卫星的所述第一伪距改正数和所述第二伪距改正数的差,获得第一差值;
根据各个所述第一差值的分布确定修正参数;
向移动台发送所述修正参数;所述修正参数用于指示所述移动台根据所述修正参数进行卫星定位。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一参考站与所述第二参考站的卫星信号的质量的差异满足预设条件。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据各个所述第一差值的分布确定修正参数,包括:
对所述第一差值进行分类,获得第一差值数量最多的第一类别;
将第一类别中第一差值对应的共视卫星作为目标卫星;
根据目标卫星的第一伪距改正数和第二伪距改正数至少之一,确定修正参数。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,对所述第一差值进行分类,获得第一差值最多的第一类别,包括:
通过k-均值聚类算法对所述第一差值进行分类,获得第一差值数量最多的第二类别;
选取所述第二类别中距离该类别质心距离小于第一阈值的第一差值,组成第一类别;
其中,所述第一阈值是根据伪距噪声确定的。
5.如权利要求3或4所述的方法,其特征在于,根据目标卫星的第一伪距改正数和第二伪距改正数至少之一,确定修正参数,包括:
将所述目标卫星的标识信息和第一伪距改正数作为所述修正参数;或,
将所述目标卫星的标识信息和第二伪距改正数作为所述修正参数。
6.如权利要求3或4所述的方法,其特征在于,根据目标卫星的第一伪距改正数和第二伪距改正数至少之一,确定修正参数,包括:
根据目标卫星的第一伪距改正数和第二伪距改正数,计算预设时间内各个共视卫星的本地环境误差的标准差,将所述标准差作为修正权值参数;
将各个共视卫星的标识信息、修正权值参数和第一伪距改正数作为所述修正参数;或,
将各个共视卫星的标识信息、修正权值参数和第二伪距改正数作为所述修正参数。
7.一种定位方法,其特征在于,包括:
获取修正参数生成设备生成的修正参数;
根据所述修正参数进行卫星定位;
所述修正参数为,所述修正参数生成设备针对第一参考站和第二参考站的各个共视卫星,获取所述第一参考站测量的所述共视卫星的第一伪距改正数,获取所述第二参考站测量的所述共视卫星的第二伪距改正数;计算各个共视卫星的所述第一伪距改正数和所述第二伪距改正数的第一差值;根据各个所述第一差值的分布确定的。
8.一种定位装置,其特征在于,包括:
第一获取单元,用于针对第一参考站和第二参考站的各个共视卫星,获取所述第一参考站测量的所述共视卫星的第一伪距改正数,获取所述第二参考站测量的所述共视卫星的第二伪距改正数;
差值计算单元,用于计算各个共视卫星的所述第一伪距改正数和所述第二伪距改正数的第一差值;
参数确定单元,用于根据各个所述第一差值的分布确定修正参数;
参数发送单元,用于向移动台发送所述修正参数;所述修正参数用于指示所述移动台根据所述修正参数进行卫星定位。
9.一种定位装置,其特征在于,包括:
第二获取单元,用于获取修正参数生成设备生成的修正参数;
卫星定位单元,用于根据所述修正参数进行卫星定位;
所述修正参数为,所述修正参数生成设备针对第一参考站和第二参考站的各个共视卫星,获取所述第一参考站测量的所述共视卫星的第一伪距改正数,获取所述第二参考站测量的所述共视卫星的第二伪距改正数;计算各个共视卫星的第一伪距改正数和第二伪距改正数的第一差值;根据各个所述第一差值的分布确定的。
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