[发明专利]一种FPGA器件测试方法、系统及电子设备在审

专利信息
申请号: 202010403080.0 申请日: 2020-05-13
公开(公告)号: CN111522330A 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 张晓羽 申请(专利权)人: 航天科工防御技术研究试验中心
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 李翔
地址: 100085*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 fpga 器件 测试 方法 系统 电子设备
【说明书】:

发明公开了一种FPGA器件测试方法、系统及电子设备,通过生成对应于Spartan‑3系列FPGA器件各功能测试的编程配置文件,并分别生成与其对应的脚本文件,测试过程中一个功能测试结束后自动调用对应的脚本文件下载另一个功能的编程配置文件再次进行测试,并根据编程配置文件调整Spartan‑3系列FPGA器件的参数,完成Spartan‑3系列FPGA器件的自动重复配置测试,大大减少测试时间,提高测试效率,实现了Spartan‑3系列FPGA器件的多个功能测试,解决了Spartan‑3系列FPGA器件不能配置和测试相结合、不能多次重复配置测试的问题,使得Spartan‑3系列FPGA器件的测试能够自动化,通用性强,易于移植,大大缩短了FPGA测试程序开发的时间,降低开发成本,从而保障航天武器元器件可靠性,填补了对此类器件测试上的空白。

技术领域

本发明涉及电子元器件测试技术领域,特别是指一种FPGA器件测试方法、系统及电子设备。

背景技术

Spartan-3系列FPGA采用90nm工艺技术和交错排列引脚技术降低了晶片尺寸和成本,提高了生产效率,并实现了单位逻辑和单位引脚的成本最低。借助于最低的单位逻辑成本,Spartan-3系列FPGA满足了业界对大批量、I/O优化的可编程逻辑解决方案的需求。Spartan-3系列FPGA为完善的片上系统(SOC)设计提供了一个单一并可轻松定制的平台。目前国内对于Spartan-3系列FPGA的检测方法、资源测试方法研究相对较少,缺少针对Spartan-3系列FPGA器件的测试方法。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提出一种FPGA器件测试方法、系统及电子设备,解决上述技术问题。

基于上述目的本发明提供的一种FPGA器件测试方法,用于Spartan-3系列FPGA器件,本方法包括:

生成多个对应于Spartan-3系列FPGA器件的多个功能测试的编程配置文件;

生成与编程配置文件对应的脚本文件,为每个脚本文件分别配置编程配置参数和编程配置文件名称;

运行脚本文件,根据为每个脚本文件的编程配置参数和编程配置文件名称,将对应的编程配置文件下载到FPGA器件中;

分别根据各编程配置文件,调整FPGA器件的参数,对FPGA器件进行功能测试,得到功能测试输出数据。

优选地,生成多个对应于Spartan-3系列FPGA器件的多个功能测试的编程配置文件包括:

运用Spartan-3系列FPGA器件厂商提供的FPGA设计开发工具建立初始配置文件;

手动实现对应各功能测试的可配置逻辑模块或输入输出模块的逻辑设计;

编译生成可配置逻辑模块或输入输出模块的位流文件;

用位流数据专用分析软件将位流文件提取并搬移到初始配置文件中,生成新的编程配置文件。

优选地,将对应的编程配置文件下载到FPGA器件中,包括:

调用ISE iMPACT工具将编程配置文件下载到FPGA器件中。

优选地,功能测试包括:查找表功能测试、块随机存储器功能测试、可编程输入/输出模块功能测试和数字时钟管理器功能测试。

优选地,分别根据各编程配置文件,调整FPGA器件的参数,对FPGA器件进行功能测试,得到功能测试输出数据包括:

对FPGA器件的各电源引脚进行电压设置,对其他引脚进行输入高电平电压、输入低电平电压、输出高电平电压、输出低电平电压设置;

针对不同的功能测试分别建立测试时序;

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