[发明专利]一种FPGA器件测试方法、系统及电子设备

权利要求书

1.一种FPGA器件测试方法，其特征在于，用于Spartan-3系列FPGA器件，所述方法包括：

生成多个对应于Spartan-3系列FPGA器件的多个功能测试的编程配置文件；

生成与编程配置文件对应的脚本文件，为每个所述脚本文件分别配置编程配置参数和编程配置文件名称；

运行所述脚本文件，根据为每个所述脚本文件的编程配置参数和编程配置文件名称，将对应的所述编程配置文件下载到所述FPGA器件中；

分别根据各所述编程配置文件，调整所述FPGA器件的参数，对所述FPGA器件进行功能测试，得到功能测试输出数据。

2.根据权利要求1所述的FPGA器件测试方法，其特征在于，所述生成多个对应于Spartan-3系列FPGA器件的多个功能测试的编程配置文件包括：

运用Spartan-3系列FPGA器件厂商提供的FPGA设计开发工具建立初始配置文件；

手动实现对应各功能测试的可配置逻辑模块或输入输出模块的逻辑设计；

编译生成所述可配置逻辑模块或输入输出模块的位流文件；

用位流数据专用分析软件将所述位流文件提取并搬移到所述初始配置文件中，生成新的编程配置文件。

3.根据权利要求1所述的FPGA器件测试方法，其特征在于，所述将对应的所述编程配置文件下载到所述FPGA器件中，包括：

调用ISE iMPACT工具将编程配置文件下载到所述FPGA器件中。

4.根据权利要求1所述的FPGA器件测试方法，其特征在于，所述功能测试包括：查找表功能测试、块随机存储器功能测试、可编程输入/输出模块功能测试和数字时钟管理器功能测试。

5.根据权利要求1所述的FPGA器件测试方法，其特征在于，所述分别根据各所述编程配置文件，调整所述FPGA器件的参数，对所述FPGA器件进行功能测试，得到功能测试输出数据包括：

对所述FPGA器件的各电源引脚进行电压设置，对其他引脚进行输入高电平电压、输入低电平电压、输出高电平电压、输出低电平电压设置；

针对不同的功能测试分别建立测试时序；

由FPGA器件的测试向量通过测试通道驱动Spartan-3系列FPGA器件进行实时配置，进行单个功能测试，并得到功能测试输出数据；

单个功能测试结束后自动调用对应的脚本文件下载另一个功能测试的编程配置文件再次进行测试，直到获得所有功能测试输出数据。

6.根据权利要求5所述的FPGA器件测试方法，其特征在于，所述针对不同的功能测试分别建立测试时序包括：

进行查找表的功能测试时，定义包含时钟信号引脚在内的所有相关引脚的时序周期为100ns，检测功能测试输出数据的时序节点为50ns处；

进行块随机存储器的功能测试时，定义包含时钟信号引脚在内的所有相关引脚的时序周期为100ns，检测功能测试输出数据的时序节点为95ns处；

进行可编程输入/输出模块的功能测试时，定义包含时钟信号引脚在内的所有相关引脚的时序周期为100ns，检测功能测试输出数据的时序节点为40ns处；

进行数字时钟管理器的功能测试时，定义包含时钟信号引脚在内的所有相关引脚的时序周期为20ns，检测功能测试输出数据的时序节点为10ns处。

7.根据权利要求1所述的FPGA器件测试方法，其特征在于，还包括：

生成用于实现中断功能的过程函数，所述过程函数用于在对所述FPGA器件进行功能测试的过程中，中断当前测试，将指定的编程配置文件下载到所述FPGA器件中。

8.根据权利要求1所述的FPGA器件测试方法，其特征在于，所述得到功能测试输出数据后，所述方法还包括：

判断功能测试输出数据是否在预设的阈值内；

输出判断结果。