[发明专利]两线式直流电机电路检测系统在审

专利信息
申请号: 202010389730.0 申请日: 2020-05-11
公开(公告)号: CN111398822A 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 薛强 申请(专利权)人: 卡川尔流体科技(上海)有限公司
主分类号: G01R31/34 分类号: G01R31/34;G01R31/68;H02H7/085
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201600 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 两线式 直流电机 电路 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种用于两线式直流电机的电路检测系统,其特征在于,包括:包括控制芯片的主控模块;以及电连接于所述主控模块的电机驱动模块,包括电机插入端子,插入检测模块和堵转检测模块,所述电机插入端子用于电连接于两线式直流电机的导电端子,所述插入检测模块,用于检测所述两线式直流电机是否与所述电机驱动模块实现电连接;所述堵转检测模块,用于检测所述两线式直流电机是否发生堵转。

2.根据权利要求1所述的电路检测系统,其中,所述插入检测模块,包括:电阻R17、三极管Q3、电连接于所述三极管Q3的检测端口,其中,在进行插入检测时,所述控制芯片中用于控制所述电机驱动模块的引脚输出低电平,当所述电机插入端子没有被插入所述两线式直流电机的导电端子时,所述三极管Q3工作在截止区,所述检测端口为高电平;当所述电机插入端子被插入所述两线式直流电机的导电端子时,所述三极管Q3工作在饱和区,所述检测端口为高电平。

3.根据权利要求2所述的电路检测系统,其中,所述堵转检测模块,包括按照预设电路实现电连接的三极管Q1、三极管Q2、二极管D1、二极管D2、电阻R8、电阻R5和所述三极管Q3和运放芯片,其中,在进行堵转检测时,所述控制芯片中用于控制所述电机驱动模块的引脚输出高电平,响应于所述两线式直流电机发生堵转,流经所述电阻R8的电流增大,所述电阻R8的电压升高,所述运放芯片控制所述控制芯片中用于控制所述电机驱动模块的引脚输出低电平,以保护所述两线式直流电机。

4.根据权利要求3所述的电路检测系统,其中,所述三极管Q1和所述三极管Q4组成晶体管的图腾柱结构,用于控制所述三极管Q3。

5.根据权利要求3所述的电路检测系统,其中,所述二极管D1和所述二极管D2被配置用于控制电连接到所述运放芯片的电压低于预设阈值。

6.一种用于两线式直流电机的电路检测系统,其特征在于,包括:包括控制芯片的主控模块;以及电连接于所述主控模块的电机驱动模块,包括按照预设电路实现电连接的电阻R16、电阻R13、三极管Q3、三极管Q4、电阻R14、电阻R18、三极管Q3、电阻R17、电阻R11、电阻R8、电阻R6、二极管D3、电阻R15、三极管Q2、检测端口、电阻R7、二极管D1、二极管D2、电容C3、电阻R5、运放芯片、电阻R10、电阻R9、电阻R12和电容C6,其中,在进行插入检测时,所述控制芯片中用于控制所述电机驱动模块的引脚输出低电平,当所述电机插入端子没有被插入所述两线式直流电机的导电端子时,所述三极管Q3工作在截止区,所述检测端口为高电平;当所述电机插入端子被插入所述两线式直流电机的导电端子时,所述三极管Q3工作在饱和区,所述检测端口为高电平。

7.根据权利要求6所述的电路检测系统,其中,在进行堵转检测时,所述控制芯片中用于控制所述电机驱动模块的引脚输出高电平,响应于所述两线式直流电机发生堵转,流经所述电阻R8的电流增大,所述电阻R8的电压升高,所述运放芯片控制所述控制芯片中用于控制所述电机驱动模块的引脚输出低电平,以保护所述两线式直流电机。

8.根据权利要求7所述的电路检测系统,其中,所述三极管Q1和所述三极管Q4组成晶体管的图腾柱结构,用于控制所述三极管Q3。

9.根据权利要求8所述的电路检测系统,其中,所述二极管D1和所述二极管D2被配置用于控制电连接到所述运放芯片的电压低于预设阈值。

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