[发明专利]一种漆包线漆膜涂覆均匀性的检测方法

说明书

一种漆包线漆膜涂覆均匀性的检测方法，属于漆包线漆膜涂覆质量检测技术领域，该检测方法包括将截取的多个磨抛线样定位放入成型模具中，在成型模具中灌入配置好的浇注固化液形成固化试样，对固化试样进行磨抛得到观测样本，对磨抛试样的横截面进行显微观察，软件测量拍摄的显微照片中多个位置处的漆膜厚度并计算偏心度，本发明的有益效果是，该检测方法保证了漆包线研磨线样灌胶时的垂直度和多个漆包线的间隔布置，准确反映了漆包线漆膜真实的涂覆质量，而且提高了检测结果的可靠性，使漆膜质量统一评估，提高了漆膜涂覆质量的检测效率，为漆膜涂覆的质量缺陷提供技术指导。

技术领域

本发明涉及漆包线漆膜涂覆质量检测技术领域，尤其涉及一种漆包线漆膜涂覆均匀性的检测方法。

背景技术

漆包线漆膜涂覆质量的检查一般是通过观察漆包线的截面来判断。现有获取漆包线截面的技术就是通过将漆包线绕线后放置在模具中，或在相应的模具中插入多根漆包线，然后在模具中灌胶，待化硬后，再将成型试样取出，使用手动磨抛机进行研磨、抛光，最后通过显微镜确认并通过软件计算截面的漆层厚度。

但是现有技术存在的问题及缺陷有：1、无论是将漆包线绕线还是直接放入模具中，都不能很好的保证漆包线的垂直度，在灌胶的过程中容易造成漆包线的歪斜，使研磨后的漆包线截面为倾斜截面，不能准确反映漆包线漆膜真实的涂覆质量；2、由于漆包线的形状和模具的结构限制，使模具中放置的漆包线比较少，使测试效率降低，而且相邻漆包线之间的间距有的无法保证，使漆包线截面的形状和形态不能清晰地观察，影响测试结果的可靠性；3、关于漆包线漆膜涂覆质量的评估方法和标准不统一，导致漆膜质量无法统一评估，使质量检测效率低。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种漆包线漆膜涂覆均匀性的检测方法，通过在成型模具中设置灌胶定位辅具，保证了漆包线研磨线样灌胶时的垂直度和多个漆包线的间隔布置，能准确反映漆包线漆膜真实的涂覆质量，而且通过显微检测的方法观察漆膜涂层，并计算试样横截面周向多点处涂层厚度的最大值与最小值的比值得到偏心度并以此标准评估漆膜涂覆质量问题，提高了检测结果的可靠性，使漆膜质量统一评估，提高了漆膜涂覆质量的检测效率。

为实现上述目的，本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：所述漆包线漆膜涂覆均匀性的检测方法，包括以下步骤：

1)在同一漆包线试样上截取同样长度的磨抛线样4～8根，分别矫直后垂直定位在垂直度定位板上，并使磨抛线样的一端伸出所述垂直度定位板一段距离，拿持磨抛线样的一端将垂直度定位板放入成型模具的灌胶空间的中心处；

2)在成型模具的灌胶空间内注入配制好的浇注固化液，静置20min以上使浇注固化液固化形成透明的固化试样，拿持磨抛线样的一端将固化试样取出；

3)将伸出固化试样的磨抛线样的部分截断后，使用磨抛机先进行粗磨，直至磨面平整并能清晰看见磨抛线样的横截面，然后精磨直至磨抛线样的横截面光滑平整，最后细磨直至磨抛线样的横截面光滑明亮；

4)用金相显微镜对已经精磨抛光的磨抛线样横截面进行显微观察，在100～2500倍的镜头下，选择放大倍数以清晰看见基体、涂层和浇注固化层时拍摄显微照片；

5)将已拍摄的显微照片输入PC机，用图象分析软件分别对磨抛线样的横截面周向多点处的涂层进行测量计数，计算涂层厚度的最大值与最小值的比值得磨抛线样漆膜涂覆的偏心度，当偏心度在小于1.50的范围内时，漆包线的涂覆满足生产要求。

进一步地，所述成型模具内设置有一端开口的灌胶空间，所述灌胶空间内设置所述垂直度定位板，所述垂直度定位板包括水平段及其两端的垂直段，所述垂直段的外侧设置有多个间隔排布的竖直定位槽，所述竖直定位槽与磨抛线样定位配合后粘接相连。

进一步地，所述垂直度定位板设置为订书钉排，所述订书钉排上相邻订书钉之间形成所述竖直定位槽。