[发明专利]基于RTK的测量方法、RTK测量系统在审

专利信息
申请号: 202010373856.9 申请日: 2020-05-06
公开(公告)号: CN111708063A 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 庄所增;文述生;王江林;李宁;周光海;肖浩威;黄劲风;马原;徐丹龙;杨艺;马然;丁永祥;闫少霞;潘伟锋;张珑耀;刘国光;郝志刚;赵瑞东;闫志愿;陈奕均;黄海锋;刘星;邹盛开;陈婉;冯亮;余定麟;扈秋海 申请(专利权)人: 广州南方卫星导航仪器有限公司
主分类号: G01S19/43 分类号: G01S19/43
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 王忠浩
地址: 510665 广东省广州市天河*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 基于 rtk 测量方法 测量 系统
【说明书】:

发明提供一种基于RTK的测量方法、RTK测量系统,该测量方法包括:S101:获取被测点,根据被测点选择至少三个测量点,其中,至少一个测量点不位于被测点与其他测量点形成的平面上;S102:获取RTK位于测量点时可见光测距模块的坐标以及可见光测距模块到被测点的距离;S103:根据坐标和距离获取被测点的坐标。本发明通过RTK、可见光测距模块测量至少三个测量点的坐标以及测量点到被测点的距离,根据该坐标和距离获取被测点的坐标,无需接触被测点,保护了用户和设备的安全,且不需要其他设备进行测量,提高了测量效率,节省了工作量,实现了对测量点的测量,消除了测量的盲区。

技术领域

本发明涉及RTK测量领域,尤其涉及一种基于RTK的测量方法、RTK测量系统。

背景技术

RTK(Real-time kinematic,实时动态)载波相位差分技术,是一种新的常用的卫星定位测量方法,RTK能够在户外实时得到厘米级定位精度。因此,RTK经常用于各种需要测量定位的环境中。

但是,使用RTK设备进行测量时必须将仪器直接或者通过对中杆、支架放置到测量点上才能进行准确测量。这会造成在实际测量时会难以使用RTK设备对一些危险或者不易靠近的点进行测量。

为了测量这些点,往往需要冒险去到达该测量点进行测量,或者使用其他设备或者工具帮助测量,甚至放弃测量。上述冒险测量的方法危害用户和设备安全,使用其他设备的方法既繁琐又加大工作量,放弃测量的方式容易出现测量盲区。

发明内容

为了克服现有技术的不足,本发明提出一种基于RTK的测量方法、RTK测量系统,通过RTK、可见光测距模块测量至少三个测量点的坐标以及测量点到被测点的距离,根据该坐标和距离获取被测点的坐标,无需接触被测点,保护了用户和设备的安全,且不需要其他设备进行测量,提高了测量效率,节省了工作量,实现了对测量点的测量,消除了测量的盲区。

为解决上述问题,本发明采用的一个技术方案为:一种基于RTK的测量方法,可见光测距模块设置在RTK的天线相位中心处,所述测量方法包括:S101:获取被测点,根据所述被测点选择至少三个测量点,其中,至少一个测量点不位于所述被测点与其他所述测量点形成的平面上;S102:获取所述RTK位于所述测量点时所述可见光测距模块的坐标以及可见光测距模块到所述被测点的距离;S103:根据所述坐标和距离获取所述被测点的坐标。

进一步地,所述可见光测距模块为可见激光测距模块。

进一步地,所述获取所述RTK位于所述测量点时所述可见光测距模块的坐标的步骤具体包括:获取天线相位中心处的坐标,根据所述坐标确定所述可见光测距模块的坐标。

进一步地,所述根据所述坐标和距离获取所述被测点的坐标的步骤具体包括:通过一个不位于其他测量点与被测点形成的平面的测量点、任意两个其他测量点以及被测点形成立体结构,根据所述立体结构以及所述RTK内置的电子罗盘确定所述被测点的坐标。

进一步地,所述根据所述坐标和距离获取所述被测点的坐标的步骤具体包括:通过一个不位于其他测量点与被测点形成的平面的测量点、任意两个其他测量点以及被测点形成立体结构,并根据所述立体结构以及一个不位于所述测量点形成的平面中的测量点获取所述被测点的坐标。

基于相同的发明构思,本发明还提出一种RTK测量系统,所述RTK测量系统包括RTK、可见光测距模块,所述可见光测距模块设置在RTK的天线相位中心处,所述RTK测量系统通过所述RTK、可见光测距模块执行如下所述的RTK的测量方法:S201:获取被测点,根据所述被测点选择至少三个测量点,其中,至少一个测量点不位于被测点与其他测量点形成的平面上;S202:获取所述RTK位于所述测量点时所述可见光测距模块的坐标以及可见光测距模块到所述被测点的距离;S203:根据所述坐标和距离获取所述被测点的坐标。

进一步地,所述可见光测距模块为可见激光测距模块。

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