[发明专利]基于RTK的测量方法、RTK测量系统

权利要求书

1.一种基于RTK的测量方法，其特征在于，可见光测距模块设置在RTK的天线相位中心处，所述测量方法包括：

S101：获取被测点，根据所述被测点选择至少三个测量点，其中，至少一个测量点不位于所述被测点与其他所述测量点形成的平面上；

S102：获取所述RTK位于所述测量点时所述可见光测距模块的坐标以及可见光测距模块到所述被测点的距离；

S103：根据所述坐标和距离获取所述被测点的坐标。

2.如权利要求1所述的基于RTK的测量方法，其特征在于，所述可见光测距模块为可见激光测距模块。

3.如权利要求1所述的基于RTK的测量方法，其特征在于，所述获取所述RTK位于所述测量点时所述可见光测距模块的坐标的步骤具体包括：

获取天线相位中心处的坐标，根据所述坐标确定所述可见光测距模块的坐标。

4.如权利要求1所述的基于RTK的测量方法，其特征在于，所述根据所述坐标和距离获取所述被测点的坐标的步骤具体包括：

通过一个不位于其他测量点与被测点形成的平面的测量点、任意两个其他测量点以及被测点形成立体结构，根据所述立体结构以及所述RTK内置的电子罗盘确定所述被测点的坐标。

5.如权利要求1所述基于RTK的测量方法，其特征在于，所述根据所述坐标和距离获取所述被测点的坐标的步骤具体包括：

通过一个不位于其他测量点与被测点形成的平面的测量点、任意两个其他测量点以及被测点形成立体结构，并根据所述立体结构以及一个不位于所述测量点形成的平面中的测量点获取所述被测点的坐标。

6.一种RTK测量系统，其特征在于，所述RTK测量系统包括RTK、可见光测距模块，所述可见光测距模块设置在RTK的天线相位中心处，所述RTK测量系统通过所述RTK、可见光测距模块执行如下所述的RTK的测量方法：

S201：获取被测点，根据所述被测点选择至少三个测量点，其中，至少一个测量点不位于被测点与其他测量点形成的平面上；

S202：获取所述RTK位于所述测量点时所述可见光测距模块的坐标以及可见光测距模块到所述被测点的距离；

S203：根据所述坐标和距离获取所述被测点的坐标。

7.如权利要求6所述的RTK测量系统，其特征在于，所述可见光测距模块为可见激光测距模块。

8.如权利要求6所述的RTK测量系统，其特征在于，所述获取所述RTK位于所述测量点时所述可见光测距模块的坐标的步骤具体包括：

获取天线相位中心处的坐标，根据所述坐标确定所述可见光测距模块的坐标。

9.基于权利要求6所述的RTK测量系统，其特征在于，所述根据所述坐标和距离获取所述被测点的坐标的步骤具体包括：

通过一个不位于其他测量点与被测点形成的平面的测量点、任意两个其他测量点以及被测点形成立体结构，根据所述立体结构以及所述RTK内置的电子罗盘确定所述被测点的坐标。

10.基于权利要求6所述的RTK测量系统，其特征在于，所述根据所述坐标和距离获取所述被测点的坐标的步骤具体包括：

通过一个不位于其他测量点与被测点形成的平面的测量点、任意两个其他测量点以及被测点形成立体结构，并根据所述立体结构以及一个不位于所述测量点形成的平面中的测量点获取所述被测点的坐标。