[发明专利]帕瑞昔布钠硫酸酯类基因毒性杂质的检测方法在审
| 申请号: | 202010371657.4 | 申请日: | 2020-05-06 |
| 公开(公告)号: | CN111413440A | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
| 发明(设计)人: | 王晓维;罗国军 | 申请(专利权)人: | 上海臣邦医药科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N30/02 | 分类号: | G01N30/02;G01N30/06;G01N30/72;G01N30/54 |
| 代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 杜寒宇 |
| 地址: | 200135 上海市浦东新区中国(上海)*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 帕瑞昔布钠 硫酸 基因 毒性 杂质 检测 方法 | ||
本发明涉及一种帕瑞昔布钠硫酸酯类基因毒性杂质的检测方法。包括以下步骤:溶解硫酸二甲酯对照品、硫酸二乙酯对照品和硫酸二异丙酯对照品,得硫酸酯类杂质对照品溶液;溶解待测帕瑞昔布钠,得待测样品溶液;对所述硫酸酯类杂质对照品溶液、待测样品溶液进行气相色谱联用质谱测定;色谱条件包括:气相色谱柱的填料选自非极性填料、弱极性填料和中等极性填料中的一种;质谱条件包括:选用电喷雾离子源,正离子扫描模式。本方法检测精密度高,具有很高的专属性和耐用性,操作简便。基因毒性杂质之间的分离度均大于2.0,可用于帕瑞昔布钠原料药的质量控制。
技术领域
本发明涉及药品分析检测领域,特别是涉及帕瑞昔布钠硫酸酯类基因毒性杂质的检测方法。
背景技术
帕瑞昔布钠属于非甾体抗炎药,是全球第一个可同时静脉、肌肉注射用的选择性环氧合酶-2抑制剂,与传统非选择性环氧合酶抑制剂相比,具有镇痛效果好、起效迅速、作用持久、能有效抑制痛觉超敏、胃肠安全性高、不影响血小板功能、不会额外增加心血管风险等特点。
在合成制备帕瑞昔布钠原料药时,发现其会生成3个硫酸酯杂质,分别为硫酸二甲酯(R1-B):硫酸二乙酯(R1-O),硫酸二异丙酯(R1-P)。硫酸酯为业内公认的警示结构,根据《人用药品注册技术要求国际协调会议(ICH)》的文件M7,即《评估和控制药物中DNA反应性(致突变)杂质以限制潜在的致癌风险》中的杂质分类规则,和《遗传毒性杂质控制指导原则-中国药典2020版征求意见稿》的规定,上述3个硫酸酯杂质系3类遗传毒性杂质,须参照毒理学关注阈值(TTC)控制其允许每日摄入量(ADI)在1.5μg/天。因帕瑞昔布钠的最大日剂量为80mg/天,故这3个硫酸酯杂质的限度计算如下:限度(%)=1.5μg/80mg=0.0018%=18ppm。
经过文献检索,目前,没有发现同时检测这三种硫酸酯类杂质的文献和专利,也未见报道硫酸二甲酯、硫酸二乙酯、硫酸二异丙酯杂质限度小于18ppm,定量下限小于1.8ppm的检测方法。因此,在帕瑞昔布钠原料药的日常出厂放行工作中,上述3个控制限度极低的遗传毒性杂质的定性检测和定量,成为行业内分析测试人员急需解决的问题。
发明内容
基于此,本发明提供一种帕瑞昔布钠硫酸酯类基因毒性杂质的检测方法,本方法检测精密度高,检出限可达到0.0009μg/ml,定量限可达0.0018μg/m,具有很高的专属性和耐用性,操作简便。基因毒性杂质之间的分离度均大于2.0,可用于帕瑞昔布钠原料药的质量控制。
具体技术方案为:
一种帕瑞昔布钠硫酸酯类基因毒性杂质的检测方法,包括以下步骤:
溶解硫酸二甲酯对照品、硫酸二乙酯对照品和硫酸二异丙酯对照品,得硫酸酯类杂质对照品溶液;
溶解待测帕瑞昔布钠,得待测样品溶液;
对所述硫酸酯类杂质对照品溶液、待测样品溶液进行气相色谱联用质谱测定;
所述气相色谱的条件包括:
气相色谱柱的填料选自非极性填料、弱极性填料和中等极性填料中的一种;
所述质谱的条件包括:
正离子扫描模式,扫描方式为SIM监测模式。
在一个优选的方案中,所述气相色谱柱的填料选自100%聚二甲基硅氧烷、5%二苯基-1%乙烯基-94%二甲基聚硅氧烷和6%氰丙基苯基-94%二甲基聚硅氧烷中的一种。
在一个优选的方案中,所述气相色谱柱选自DB-1、OV-1、HP-1、BP-1、SE-52、OV-5、DB-5、BP-5、SE-54、HP-5和RTX-5中的一种。
在一个优选的方案中,溶解所述硫酸二甲酯对照品、硫酸二乙酯对照品和硫酸二异丙酯对照品的溶剂选自二甲基亚砜、甲醇、四氢呋喃和乙腈中的一种或几种。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海臣邦医药科技股份有限公司,未经上海臣邦医药科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010371657.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





