[发明专利]显影盒及其碳粉余量检测方法、电子成像设备

权利要求书

1.显影盒，包括：

盒体，所述盒体内设置有粉仓，搅拌装置设置在所述粉仓内，所述搅拌装置包括一根转轴以及自所述转轴沿径向延伸的搅拌叶片，所述转轴支承于所述盒体的两端壁之间；

其特征在于：

所述粉仓的内壁设置有检测电路板，所述检测电路板上设置有检测电极，所述搅拌叶片的径向端部可抵接于所述检测电路板的表面，所述检测电路板平行于所述转轴设置；

所述检测电路板设置有比较电路，所述比较电路分别接收基准电容值以及所述搅拌叶片刮扫所述检测电极前后的电容变化值，并比较所述基准电容值与所述电容变化值的大小。

2.根据权利要求1所述的显影盒，其特征在于：

检测电路板的一端延伸至所述粉仓外并与所述盒体外壁上的电触点电连接。

3.根据权利要求1所述的显影盒，其特征在于：

所述检测电极的数量为两个，两个所述检测电极位于所述检测电路板的同一表面上。

4.根据权利要求3所述的显影盒，其特征在于：

每一所述检测电极均包括一个天线电路，两个所述检测电极的天线电路对称布置。

5.根据权利要求4所述的显影盒，其特征在于：

每一所述天线电路均包括多条天线支线，两个所述天线电路的天线支线交错布置。

6.根据权利要求2至5任一项所述的显影盒，其特征在于：

所述检测电路板包括位于所述粉仓内的第一部分以及延伸至所述粉仓外的第二部分，所述检测电极位于所述第一部分的表面上，所述比较电路设置在所述第二部分。

7.根据权利要求6所述的显影盒，其特征在于：

沿所述粉仓的宽度方向，所述第一部分的长度大于所述第二部分的长度。

8.如权利要求1所述的显影盒的碳粉余量检测方法，其特征在于，包括：

获取所述搅拌叶片刮扫所述检测电路板前，所述电路板所检测的第一电容值；

获取所述搅拌叶片刮扫所述检测电路板后，所述电路板所检测的第二电容值，并计算所述第一电容值与所述第二电容值的差值；

计算所述差值是否大于所述基准电容值，在所述差值大于所述基准电容值时，输出报警信号。

9.根据权利要求8所述的碳粉余量检测方法，其特征在于：

在获取所述第一电容值后，经过预设时间，获取所述第二电容值。

10.电子成像设备，包括壳体，所述壳体内设置有显影盒安装腔，所述显影盒安装腔内安装有如权利要求1至7任一项的显影盒。