[发明专利]一种基于FPGA实现电机控制的方法和装置有效

专利信息
申请号: 202010359226.6 申请日: 2020-04-29
公开(公告)号: CN113284290B 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 刘华;朱忆军 申请(专利权)人: 深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院
主分类号: G07D11/18 分类号: G07D11/18;G07D11/12
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 吴文心
地址: 518067 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 fpga 实现 电机 控制 方法 装置
【说明书】:

发明实施例提供了一种基于FPGA实现电机控制的方法和装置,包括:当接收到预设的介质分离指令时,获取预设分离元件的第一相位信息;根据第一相位信息确定对预设检测组件进行检测的检测时间点;在检测时间点对检测组件进行检测,得到检测结果;根据检测结果,采用电机控制预设介质承载组件向分离组件移动。本发明实施例通过实时监测介质承载组件及分离组件位置,并实时根据监测结果同步移动介质承载组件,从而可以精准控制介质承载组件移动的时间点,使得介质在移动过程中不会与分离元件接触导致介质受力改变而影响介质分离。

技术领域

本发明涉及信号处理技术领域,特别是涉及一种基于FPGA实现电机控制的方法和一种基于FPGA实现电机控制的装置。

背景技术

用于存储介质的容器往往会涉及到如何分离容器内介质的问题,现有的容器内介质的分离往往是通过容器内分离组件与介质之间的摩擦,来实现将介质从容器内分离出来的技术效果。

然而,介质在分离过程中,虽然电机的转速是确定的,但因介质的新旧、污损等因素,质量、厚度、所占空间不同,分离组件与介质之间的相对位置容易出现变化,导致分离组件与介质之间的摩擦力过大或者过小,介质与分离元件间或松或紧,介质的分离并非匀速进行,致使介质分空或多分的现象产生。导致分离质量无法得到有效保障。这些距离和摩擦力等参数的变化是十分微小的,但却对介质分离效果产生大的影响,而传统的控制方式无法实现精准实时调整,如不及时处理并矫正,甚至带来严重的损坏介质及装置的后果。目前传统的处理方式是通过ARM、MCU等控制电机驱动分离组件分离介质,传统控制方式只能解决明显的分离问题,其实时性和精准度都无法解决因细微参数变化带来的分离问题,无法实现精准控制,精准分离。

发明内容

鉴于上述问题,提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种基于FPGA实现电机控制的方法和相应的一种基于FPGA实现电机控制的装置,通过FPGA的运算与控制技术,解决了传统控制方式无法解决因细微参数变化带来的分离问题。

为了解决上述问题,本发明实施例公开了一种基于FPGA实现电机控制的方法,所述的方法包括:

当接收到介质分离指令时,获取预设分离元件的第一相位信息;

根据所述第一相位信息确定对预设检测组件进行检测的检测时间点;

在所述检测时间点对所述检测组件进行检测,得到检测结果;

根据所述检测结果,采用所述电机控制预设介质承载组件向所述分离组件移动。

可选地,所述检测时间点包括第一检测时间点;所述根据所述第一相位信息确定对预设检测组件进行检测的检测时间点的步骤,包括:

当所述第一相位信息为遮挡信息时,将检测到所述遮挡信息的时间点确定为第一检测时间点。

可选地,所述检测组件包括至少一个检测元件;所述根据所述检测结果,采用所述电机控制预设介质承载组件向所述分离组件移动的步骤,包括:

当所述检测结果为任一所述检测元件处于不遮挡状态时,获取所述分离元件的第二相位信息;

当所述第二相对位置信息为第二不遮挡信息时,获取预设介质承载组件的调整状态;

当所述调整状态为使能状态时,采用所述电机控制所述介质承载组件向所述分离组件移动。

可选地,所述检测时间点包括第二检测时间点;所述根据所述第一相位信息确定对预设检测组件进行检测的检测时间点的步骤,包括:

当所述第一相位信息为第一不遮挡信息时,将从检测到所述第一不遮挡信息的时间点起,预设时间后的时间点,确定为所述第二检测时间点。

可选地,所述根据所述检测结果,采用所述电机控制预设介质承载组件向所述分离组件移动的步骤,包括:

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