[发明专利]图像处理芯片测试方法在审
| 申请号: | 202010339513.0 | 申请日: | 2020-04-26 |
| 公开(公告)号: | CN113552465A | 公开(公告)日: | 2021-10-26 |
| 发明(设计)人: | 黄棕达;杨景岚 | 申请(专利权)人: | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;H04N17/00 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 酆迅 |
| 地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像 处理 芯片 测试 方法 | ||
本公开的实施例涉及一种图像处理芯片测试方法,该方法包括:控制电源供应电路来提供第一操作电压给包含存储装置的图像处理芯片;在从存储装置读取被写入的第一图像数据时,测试装置接收对应于第一图像数据的第一错误检测码并且确定第一错误检测码是否代表错误发生;如果错误发生,则将第一操作电压记录为错误操作电压;如果错误未发生,则提供第二操作电压给图像处理芯片。而且,在从存储装置读取被写入的第二图像数据时,测试装置接收对应于第二图像数据的第二错误检测码并且确定第二错误检测码是否代表错误发生。
技术领域
本发明涉及图像处理芯片测试方法,特别地涉及可自动测试图像处理芯片的错误操作电压的图像处理芯片测试方法。
背景技术
传统上对图像处理芯片进行测试时,会以手动方式调整提供给图像处理芯片的操作电压,并观察连接到图像处理芯片的显示器上是否有显示问题(例如闪烁或拉丝),来确定操作电压是否为适当的操作电压。
然而,这样的操作方式仅能发现会造成较严重显示问题的操作电压,当显示问题较轻微时,观察者可能因有问题的图像仅在极短时间内显现出来或是较不明显而无法发现相对应的错误操作电压。
发明内容
因此,本发明一个目的为提供一种可自动且精确测试错误操作电压的图像处理芯片测试方法。
本发明一实施例提供了一种图像处理芯片测试方法,通过在测试装置上执行至少一个程序来实现,包括:控制电源供应电路来提供第一操作电压给图像处理芯片,该图像处理芯片包含至少一个存储装置;写入第一图像数据至该存储装置;在从该存储装置读取该第一图像数据时,该测试装置接收对应于该第一图像数据的第一错误检测码并且确定该第一错误检测码是否代表错误发生;如果该第一错误检测码代表该错误发生,则将该第一操作电压记录为错误操作电压;如果该第一错误检测码代表该错误未发生,则提供第二操作电压给该图像处理芯片,写入第二图像数据至该存储装置,并且在从该存储装置读取该第二图像数据时,该测试装置接收对应于该第二图像数据的第二错误检测码并且确定该第二错误检测码是否代表错误发生。
根据前述实施例,可自动且精准的检测图像芯片,因此可克服现有技术中无法自动且难以精准的检测到错误操作电压的问题。
附图说明
图1绘示了根据本发明一实施例的使用本发明所提供的图像处理芯片测试方法的图像芯片测试系统的框图。
图2绘示了根据本发明另一实施例的使用本发明所提供的图像处理芯片测试方法的图像芯片测试系统的框图。
图3绘示了根据本发明又一实施例的使用本发明所提供的图像处理芯片测试方法的图像芯片测试系统的框图。
图4绘示了根据本发明一实施例的图像处理芯片测试方法的流程图。
具体实施方式
以下将以多个实施例来描述本发明的内容,还请留意,各实施例中的组件可通过硬件(例如装置或电路)或是固件(例如微处理器中写入至少一个程序)来实施。此外,以下描述中的“第一”、“第二”以及类似描述仅用来定义不同的组件、参数、数据、信号或步骤,并非用以限定其次序。
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