[发明专利]图像处理芯片测试方法

权利要求书

1.一种图像处理芯片测试方法，通过在测试装置上执行至少一个程序而实现，包括：

控制电源供应电路来提供第一操作电压给图像处理芯片，所述图像处理芯片包含至少一个存储装置；

写入第一图像数据至所述存储装置；

在从所述存储装置读取所述第一图像数据时，所述测试装置接收对应于所述第一图像数据的第一错误检测码并且确定所述第一错误检测码是否代表错误发生；

如果所述第一错误检测码代表所述错误发生，则将所述第一操作电压记录为错误操作电压；

如果所述第一错误检测码代表所述错误未发生，则提供第二操作电压给所述图像处理芯片，写入第二图像数据至所述存储装置，并且在从所述存储装置读取所述第二图像数据时，所述测试装置接收对应于所述第二图像数据的第二错误检测码并且确定所述第二错误检测码是否代表错误发生。

2.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，其中所述第二操作电压小于所述第一操作电压。

3.根据权利要求2所述的图像处理芯片测试方法，还包括：

如果所述第二错误检测码代表所述错误发生，则将所述第二操作电压记录为所述错误操作电压；

如果所述第二错误检测码代表所述错误未发生，则提供第三操作电压给所述图像处理芯片，存储第三图像数据至所述存储装置，并且在从所述存储装置读取所述第三图像数据时，所述测试装置接收对应于所述第三图像数据的第三错误检测码并且确定所述第三错误检测码是否代表错误发生；

其中所述第三操作电压小于所述第二操作电压。

4.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，其中所述第二操作电压高于所述第一操作电压，且所述第一操作电压是所述图像处理芯片可正常运作的最低电压。

5.根据权利要求4所述的图像处理芯片测试方法，还包括：

如果所述第二错误检测码代表所述错误发生，则将所述第二操作电压记录为所述错误操作电压；

如果所述第二错误检测码代表所述错误未发生，则提供第三操作电压给所述图像处理芯片，存储第三图像数据至所述存储装置，并且在从所述存储装置读取所述第三图像数据时，所述测试装置接收对应于所述第三图像数据的第三错误检测码并且确定所述第三错误检测码是否代表错误发生；

其中所述第三操作电压高于所述第二操作电压。

6.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，其中所述错误检测码为循环冗余校验码。

7.根据权利要求6所述的图像处理芯片测试方法，其中所述存储装置为双倍数据率存储器。

8.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，其中所述图像处理芯片还包括耦接所述存储装置的显示器驱动电路，所述显示器驱动电路耦接显示器以控制所述显示器来显示从所述存储装置读出的图像数据，当所述错误检测码代表所述错误发生时，所述显示器显示相对应的错误画面。

9.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，还包括独立于所述图像处理芯片并且耦接所述存储装置的显示器驱动电路，所述显示器驱动电路耦接显示器以控制所述显示器来显示从所述存储装置读出的图像数据，当所述错误检测码代表所述错误发生时，所述显示器显示相对应的错误画面。

10.根据权利要求1所述的图像处理芯片测试方法，其中所述第一图像数据以及所述第二图像数据包含相同的图像内容。