[发明专利]一种平面度测量装置及方法

说明书

本发明提供一种平面度测量装置，包括数显表、测试架和调整部件。其中，调整部件与测试架连接用于调整测试架与待测平面平行，并且调整部件底部设有与待测平面接触的触点。数显表能够在测试架上与待测平面平行的平面内滑动，并且数显表底部设有与待测平面接触的触点。本发明还提供一种平面度测量方法。本发明涉及的平面度测量装置及方法，不需要参考基准和更多的组合工具定位调平，能够快速高效地输出准确的平面度参数，从而能够提高平面度测量的效率和准确性。

技术领域

本发明涉及精密测量技术领域，具体涉及一种平面度测量装置及方法。

背景技术

在壳体类机械零件加工过程中，通常需要准确测量壳体零件的表面平面度来满足零件的装配或定位需求。目前工厂内常见的平面度测量工具主要集中在：精密三坐标、刀口尺配合塞尺、大理石平台配合千分表等方式测量。其中三坐标设备测量平面度准确可靠，但是建坐标系编程操作繁琐，时效比不算高。刀口尺配合塞尺的评价方式测量误差大且对人员操作水平要求高。大理石平台推千分表的方式需要考虑大理石平台的平面度等级，同时也要对零件待测面进行三远点找平操作，调平过程繁琐费时。

GB/T-11337针对平面度测量给出了诸多建议方案，包括使用自准直仪、液位量具、平台推表(调平零件)、干涉平晶、反向消差等方法，但是大多计算复杂、操作繁琐且需要专用工具组合使用。

发明内容

本发明要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种能够提高测量的效率及准确性的平面度测量装置及方法。

为了解决上述技术问题，本发明提出的技术方案为：

一种平面度测量装置，包括数显表、测试架和调整部件。其中，调整部件与测试架连接用于调整测试架与待测平面平行，并且调整部件底部设有与待测平面接触的触点。数显表能够在测试架上与待测平面平行的平面内滑动，并且数显表底部设有与待测平面接触的触点。

根据本发明的平面度测量装置，通过调整部件调整测试架与待测平面平行，数显表用于输出不同位置的平面高度数值，不需要参考基准和更多的组合工具定位调平，能够快速高效地输出准确的平面度参数，从而能够提高平面度测量的效率和准确性。

对于上述技术方案，还可进行如下所述的进一步的改进。

根据本发明的平面度测量装置，在一个优选的实施方式中，测试架为采用铰链互相连接形成的方形框架结构。

这种结构形式的测试架，不仅结构简单，便于装配，成本低，而且便于通过铰链的转动实现测量不同尺寸范围的平面的平面度。

进一步地，在一个优选的实施方式中，调整部件设置在铰链互相连接的位置处。

通过将调整部件设置在铰链互相连接的位置处，不仅可以简化测试架的结构，进一步节省成本，而且便于将调整部件的触点散布在待测平面上。

进一步地，在一个优选的实施方式中，调整部件的位置能够沿铰链的长度方向调整。

通过调整部件的位置的调整可以改变铰链在实际测量过程中的长度，从而改变整个测试架的外形尺寸实现测量不同尺寸的平面的平面度的目的。

具体地，在一个优选的实施方式中，触点为半球形结构。

半球形接触点可以精确定位待测平面上的点。

具体地，在一个优选的实施方式中，调整部件为调整螺钉。

调整螺钉能够进一步简化整个装置的结构和节省成本，并且便于调整操作。

进一步地，在一个优选的实施方式中，测试架上设有用于数显表滑动的滑槽。

通过设置滑槽，便于数显表在测试架上稳定滑行，从而提高测试效率和精准度。