[发明专利]一种平面度测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 202010306381.1 申请日: 2020-04-17
公开(公告)号: CN113532367A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 李辰;胡玉龙;郑云宇 申请(专利权)人: 北京福田康明斯发动机有限公司
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;何娇
地址: 102206 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 平面 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种平面度测量装置,其特征在于,包括数显表、测试架和调整部件;其中,

所述调整部件与所述测试架连接用于调整所述测试架与待测平面平行,并且所述调整部件底部设有与待测平面接触的触点;

所述数显表能够在所述测试架上与待测平面平行的平面内滑动,并且所述数显表底部设有与待测平面接触的触点。

2.根据权利要求1所述的平面度测量装置,其特征在于,所述测试架为采用铰链互相连接形成的方形框架结构。

3.根据权利要求2所述的平面度测量装置,其特征在于,所述调整部件设置在所述铰链互相连接的位置处。

4.根据权利要求3所述的平面度测量装置,其特征在于,所述调整部件的位置能够沿所述铰链的长度方向调整。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的平面度测量装置,其特征在于,所述触点为半球形结构。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的平面度测量装置,其特征在于,所述调整部件为调整螺钉。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的平面度测量装置,其特征在于,所述测试架上设有用于所述数显表滑动的滑槽。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的平面度测量装置,其特征在于,所述调整部件底部的触点均匀散布于待测平面上。

9.一种采用权利要求1至8中任一项所述的装置实施的平面度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

S01:将所述测试架放在待测平面上,并使得调整部件底部的触点散布于待测平面表面;

S02:将数显表插入测试架上置零;

S03:通过调节调整部件将调整部件底部的触点调整到零值;

S04:在测试架上滑动数显表并记录测量点数值;

S05:计算出测量点数值的极差即为所测平面的平面度。

10.根据权利要求9所述的平面度测量方法,其特征在于,所述测试架为采用铰链互相连接形成的方形框架结构,通过调整所述铰链的转动角度测量不同尺寸范围的平面,或者通过调整所述铰链的长度测量不同尺寸范围的平面。

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