[发明专利]一种分段蒸发结晶制备高纯晶体的方法有效

专利信息
申请号: 202010304147.5 申请日: 2020-04-17
公开(公告)号: CN111514604B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 郭涛;杨波 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: B01D9/02 分类号: B01D9/02
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 徐凯凯;刘芙蓉
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 分段 蒸发 结晶 制备 高纯 晶体 方法
【说明书】:

发明公开一种分段蒸发结晶制备高纯晶体的方法。包括步骤:将不饱和溶液进行蒸发结晶;通过结晶在线监测装置,监测到溶液首批晶核出现时,停止蒸发结晶,得到晶浆1;将晶浆1进行固液分离,得到溶液1和晶体1;将溶液1进行蒸发结晶,直至蒸发结晶停止,得到晶浆2;将晶浆2进行固液分离,得到溶液2和晶体2;将晶体2洗涤,得到纯净晶体。本发明通过在线实时监测蒸发结晶过程的初级爆发成核,利用初级爆发成核富集钙离子等杂质的特性,实现杂质离子的去除。将初级爆发成核得到的晶浆1固液分离后,将分离得到的溶液1进行二次蒸发结晶,得到高纯晶体。利用该方法,可显著降低晶体中钙离子等杂质离子含量,实现高纯晶体的制备。

技术领域

本发明涉及蒸发结晶技术领域,尤其涉及一种分段蒸发结晶制备高纯晶体的方法。

背景技术

结晶是提纯固体常用的方法之一,通过晶体析出及杂质全部或大部分留在溶液中从而达到提纯目的。蒸发结晶借蒸发浓缩获得饱和溶液,进一步得到结晶产品,广泛应用于化工、冶金、制药等行业。在实际结晶生产过程中,杂质集中于晶体表面附近,可能导致表面层发生变化,进而影响结晶行为,或吸附于晶体表面并进入晶格,进而影响晶面的生长速率,导致晶习改变,造成晶粒细化、晶核分散等不良影响,甚至生成一些复盐夹杂在结晶中,使结晶不能很好地成长和长大析出,同时出现结晶细小、结块等问题。

常规的蒸发结晶得到的晶体,往往含有少量的钙离子杂质,无法得到高纯晶体。通过高纯原料制备高纯晶体,成本往往较高。通过添加药剂络合或掩蔽杂质离子,会使晶体增加新的杂质。

因此,现有技术仍有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种分段蒸发结晶制备高纯晶体的方法,旨在解决现有方法蒸发结晶得到的晶体,含有少量的钙离子杂质,无法得到高纯晶体的问题。

本发明的技术方案如下:

一种分段蒸发结晶制备高纯晶体的方法,其中,包括步骤:

将不饱和溶液送至蒸发结晶器,进行蒸发结晶;

通过结晶在线监测装置,监测到溶液首批晶核出现时,停止蒸发结晶,得到晶浆1;

将晶浆1进行固液分离,得到溶液1和晶体1;

将溶液1送至蒸发结晶器,进行蒸发结晶,直至蒸发结晶停止,得到晶浆2;

将晶浆2进行固液分离,得到溶液2和晶体2;

将晶体2洗涤,得到纯净晶体。

进一步地,将溶液2溶解晶体1,进行固液分离,得到溶晶液和沉淀;将溶晶液与不饱和溶液混合调配,送至蒸发结晶器。

进一步地,所述蒸发为常压蒸发或减压蒸发。

进一步地,所述蒸发结晶在蒸发结晶器同时进行,或者先蒸发、后结晶分步进行。

进一步地,所述固液分离的方法为静置沉降、离心过滤或压滤。

进一步地,采用目测法、Coulter计数器法、电导率法、浊度法、超声波技术、激光法或过程检测技术对溶液进行在线监测。

进一步地,所述不饱和溶液为不饱和的铝酸钠溶液、不饱和的铬酸钠溶液、不饱和的碳酸钠和硫酸钠组成的混合溶液。

进一步地,所述纯净晶体为碳酸钠、铬酸钠或碳酸钠钒。

有益效果:本发明通过晶体在线监测装置,实时监测蒸发结晶过程的初级爆发成核。利用初级爆发成核富集钙离子等杂质的特性,实现杂质离子的去除。将初级爆发成核得到的晶浆1固液分离后,将分离得到的溶液1进行二次蒸发结晶,可得到高纯的晶体。利用上述方法,可显著降低晶体中钙离子等杂质离子含量,实现高纯晶体的制备,较好地与现有蒸发结晶工艺衔接,且不会降低产品产率。

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