[发明专利]一种靶材缺陷的检测方法在审
申请号: | 202010300117.7 | 申请日: | 2020-04-16 |
公开(公告)号: | CN111366639A | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 姚力军;窦兴贤;王学泽;王青松;周莎莎 | 申请(专利权)人: | 合肥江丰电子材料有限公司 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/30;G01N29/28;G01N29/265;G01N29/34 |
代理公司: | 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 | 代理人: | 王岩 |
地址: | 230012 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种靶材缺陷的检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
将靶材组件组装完成后,采用超声波探伤仪对所述靶材组件进行检测;
其中,所用检测条件为所述靶材组件相应的标准件检测时的检测条件。
2.根据权利要求1所述的靶材缺陷的检测方法,其特征在于,所述靶材组件包括靶材和背板,两者通过焊接进行组装;
优选地,所述靶材包括Al靶材、Cu靶材、Mo靶材、Ti靶材或MoNb合金靶材中的任意一种或至少两种的组合。
3.根据权利要求1或2所述的靶材缺陷的检测方法,其特征在于,所述靶材组件进行检测前,先进行标准件的检测;
优选地,所述标准件的材质、制备工艺与靶材组件相同。
4.根据权利要求3所述的靶材缺陷的检测方法,其特征在于,所述标准件的缺陷面积已知,得出理论缺陷值;
优选地,采用超声波探伤仪对标准件进行多次检测,得出多个测试缺陷值,选择与理论缺陷值偏差在±0.5%范围内的测试缺陷值时的检测条件为靶材组件的检测条件。
5.根据权利要求1-4任一项所述的靶材缺陷的检测方法,其特征在于,所述靶材组件进行检测时,以水为介质;
优选地,所述靶材组件浸入水中的距离为75~105mm。
6.根据权利要求1-5任一项所述的靶材缺陷的检测方法,其特征在于,所述超声波探伤仪包括超声波探头,所述超声波探头位于靶材组件的上方;
优选地,所述超声波探头浸入水中的距离为35~55mm;
优选地,所述超声波探头的移动速率为300~500mm/s。
7.根据权利要求6所述的靶材缺陷的检测方法,其特征在于,所述超声波探伤仪还包括超声波探头支架,所述超声波探头支架位于水面上方,带动超声波探头横向移动。
8.根据权利要求1-7任一项所述的靶材缺陷的检测方法,其特征在于,所述超声波探伤仪进行检测时,所用超声波探头的频率为5~10MHz。
9.根据权利要求1-8任一项所述的靶材缺陷的检测方法,其特征在于,所述超声波探伤仪进行检测时,超声波探伤仪的感度为35~45dB。
10.根据权利要求1-9任一项所述的靶材缺陷的检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
(1)选择与待测靶材组件材质、制备工艺相同的标准件,采用超声波探伤仪进行检测;所述标准件的缺陷面积已知,得出理论缺陷值;采用超声波探伤仪对标准件进行多次检测,得出多个测试缺陷值,选择与理论缺陷值偏差在±5%范围内的测试缺陷值时的检测条件为靶材组件的检测条件;
(2)采用步骤(1)中的检测条件对待测靶材组件进行检测;检测时以水为介质,靶材组件浸入水中的距离为75~105mm;所述超声波探伤仪包括超声波探头和超声波探头支架,所述超声波探头浸入水中的距离为35~55mm,移动速率为300~500mm/s,所用超声波探头的频率为5~10MHz,超声波探伤仪的感度为35~45dB。
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