[发明专利]一种链损测量方法、系统及设备

说明书

本发明实施例公开了一种链损测量方法、系统及设备，涉及通信技术领域，对基于RFID标签的室内分布式天线监控执行更新过程、验证过程及校准过程，在RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率的差值超过预设第一预设阈值时，才对RFID标签重新启动检测并更新最大未激活发射功率和/或最小激活发射功率，缩短了链损测量时延和告警时延；同时，在更新过程的基础上，执行验证过程及校准过程，保证链损检测能够快速得到准确结果。

技术领域

本发明实施例涉及通信技术领域，具体涉及一种链损测量方法、系统及设备。

背景技术

无线通信室内覆盖解决方案主要分为无源方案和有源方案两大类，无源方案以无源分布系统为代表，无线运营商在2G、3G和4G时代广为使用，无源分布系统主要由无源器件组成，包括合路器、功分器、耦合器、射频同轴电缆和室分天线等。为了改善无源分布系统的可监控性，智慧室分系统将RFID(radio frequency identification,射频识别)技术与无源分布系统相融合，从而实现了对无源室分系统故障的监控，对无源室分系统的监控主要是对链损的监控，为了准确测量链损，RFID读卡器需要通过逐步增大功放的发射功率，找出激活RFID标签的临界发射功率，以确定链损大小，这样做的缺点是时延大，为了提高测量精度，需要减小增大功放发射功率的步长，这就导致得到测量结果的时延进一步加大。

此外，为了降低成本，通常一个RFID网关设备需要监控多个馈线，这进一步增大了链损监控的时延。

发明内容

为此，本发明实施例提供一种链损测量方法、系统及设备，以解决现有技术中链损测量时延大的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

根据本发明实施例的第一方面，提供一种链损测量方法，所述方法包括：搜索得到所有RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率；判断各个RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率之间的差值是否超过第一预设阈值；如果所述差值超过所述第一预设阈值，获取取新检验发射功率，尝试激活所述RFID标签；检测所述RFID标签是否激活；根据检测结果用所述检验发射功率更新所述RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率；重复上述步骤，直至所有RFID标签的最大未激活发射功率与最小激活发射功率之间的差值小于等于所述第一预设阈值。

进一步地，所述获取新检验发射功率，包括：按照以下计算公式选取参考检验发射功率：Pn＝P0+k(P1-P0)，其中，Pn为参考检验发射功率，P0为最大未激活发射功率，P1为最小激活发射功率，k为固定值且大于0且小于1，所有同一个网关管理的FRID标签中选取参考检验发射功率公式中的k值是一样的，这样可以有利于于缩短时延；利用第二预设阈值将所述参考检验发射功率调整到功放设置范围内，获取所述检验发射功率。

进一步地，所述根据检测结果用所述检验发射功率更新所述RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率，包括：如果所述RFID标签激活，对比所述检验发射功率与所述最小激活发射功率，如果所述最小激活发射功率大于所述检验发射功率，则将该RFID标签对应的最小激活发射功率更新为检验发射功率；如果所述RFID标签未激活，对比所述检验发射功率与所述最大未激活发射功率，如果所述最大未激活发射功率小于所述检验发射功率，则将该RFID标签对应的最大未激活发射功率更新为检验发射功率。

优选地，在搜索得到所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率之前，所述方法还包括：记录所有RFID标签信息，所述RFID标签信息包括电子产品码信息；和/或将所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别初始设置为功放最小发射功率和功放最大发射功率。