[发明专利]一种链损测量方法、系统及设备

权利要求书

1.一种链损测量方法，其特征在于，所述方法包括：

搜索得到所有RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率；

判断每个RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率之间的差值是否超过第一预设阈值；

如果所述差值超过所述第一预设阈值，获取新检验发射功率，尝试激活所述RFID标签；

检测所述RFID标签是否激活；

根据检测结果用所述检验发射功率更新所述RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率；

重复上述步骤，直至所有 RFID 标签的最小激活发射功率与最大未激活发射功率之间的差值小于等于所述第一预设阈值；

根据每个RFID标签的最小激活发射功率，计算每个馈线链损；

所述获取新检验发射功率，包括：

按照以下计算公式选取参考检验发射功率：

Pn=P0+k（P1-P0），

其中，Pn为参考检验发射功率，P0为最大未激活发射功率，P1为最小激活发射功率，k为固定值且大于0小于1；

利用第二预设阈值将所述参考检验发射功率调整到功放设置范围内，获取所述新检验发射功率。

2.根据权利要求1所述的一种链损测量方法，其特征在于，所述根据检测结果用所述检验发射功率更新所述RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率，包括：

如果所述RFID标签激活，则将该RFID标签对应的最小激活发射功率更新为检验发射功率；

如果所述RFID标签未激活，则将该RFID标签对应的最大未激活发射功率更新为检验发射功率。

3.根据权利要求1所述的一种链损测量方法，其特征在于，在搜索得到RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率之前，所述方法还包括：

记录所有RFID标签信息，所述RFID标签信息包括电子产品码信息；和/或

将所有RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率分别初始设置为功放最大发射功率和功放最小发射功率。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的一种链损测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

针对每个RFID标签，按照满足第一预设阈值的最大未激活发射功率发射信号，对所述RFID标签进行第一验证；

针对每个RFID标签，按照满足第一预设阈值的最小激活发射功率发射信号，对所述RFID标签进行第二验证；

当第一验证结果为所述RFID标签未激活，并第二验证结果为所述RFID标签激活时，所述RFID标签当前的最大未激活发射功率和最小激活发射功率正确。

5.根据权利要求4所述的一种链损测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

当两次验证结果均检测到所述 RFID 标签未激活时，选取当前最大未激活发射功率和最小激活发射功率中的较大值Pm；

依次设置第一校准发射功率为Pm+2ⁿΔ，尝试激活所述RFID标签，其中，Δ为第一预设阈值，n为整数；

在预设检测范围内，直到检测到所述RFID标签激活，将所述RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别校准为所述第一校准发射功率的上一设置值和当前设置值；

如果达到预设检测范围内的最大值，仍检测到所述RFID标签未激活，发出断路告警。

6.根据权利要求4所述的一种链损测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

当两次验证结果均检测到所述 RFID 标签激活时，选取当前最大未激活发射功率和最小激活发射功率中的较小值Pi；

依次设置第二校准发射功率为Pi-2ⁿΔ，尝试激活所述RFID标签，其中，Δ为第一预设阈值，n为整数；

直到检测到所述RFID标签未激活，将所述RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别校准为所述第二校准发射功率的当前设置值和上一设置值。