[发明专利]一种针对薄壁类构件的检索方法、设备及介质

说明书

本申请公开了一种针对薄壁类构件的检索方法、设备及介质，方法包括：确定待检索的第一薄壁类构件对应的全局特征值；基于全局特征值以及预设算法，进行第一次检索，并得到第一次检索对应的第一检索结果；根据第一薄壁类构件对应的局部特征值，在第一检索结果中进行第二次检索；将第二次检索对应的第二检索结果作为最终检索结果。在基于全局特征值进行第一次检索后，再基于薄壁类构件的使用场景和/或材料所对应的局部特征值进行第二次检索，能够充分利用特定需求中关联的薄壁类构件模型关重局部特征值，实现了检索相似程度的进一步定向运算，在没有增加检索复杂度的前提下保证了检索结果的可靠性，也就增加了检索结果的准确度。

技术领域

本申请涉及检索领域，具体涉及一种针对薄壁类构件的检索方法、设备及介质。

背景技术

薄壁类构件，又称薄壁类零件、薄壁结构等，指的是由薄板、薄壳和细长杆件组成的结构，能以较小的重量和较少的材料承受较大的载荷，在生产工作中经常被使用。

在实际的工作时，通常需要对薄壁类构件进行检索。但是在现有技术中，对薄壁类构件进行检索时，通常只考虑薄壁类构件的表面结构，并未考虑其他因素，这就使得在进行检索时，得到的结果往往不够准确。

发明内容

为了解决上述问题，本申请提出了一种针对薄壁类构件的检索方法，包括：确定待检索的第一薄壁类构件对应的全局特征值；基于所述全局特征值以及预设算法，进行第一次检索，并得到所述第一次检索对应的第一检索结果；根据所述第一薄壁类构件对应的局部特征值，在所述第一检索结果中进行第二次检索，其中，所述局部特征值与所述第一薄壁类构件的使用场景和/或材料相关；将所述第二次检索对应的第二检索结果作为最终检索结果。

在一个示例中，所述预设算法与所述第一薄壁类构件对应的模型表面随机两个采样点之间的距离值相关。

在一个示例中，基于所述全局特征值以及预设算法，进行第一次检索，包括：确定所述第一薄壁类构件对应的模型表面的，任意两个采样点之间的距离值；根据所述预设算法以及所述距离值，得到所述第一薄壁类构件对应的距离值概率分布直方图；根据所述概率分布直方图，确定所述第一薄壁类构件的特征表示符；得到所述第一次检索对应的第一检索结果，包括：根据所述第一薄壁类构件的特征表示符，与已确定的第二薄壁类构件的特征表示符之间的第一相似程度，得到第一检索结果。

在一个示例中，基于所述全局特征值以及预设算法，进行第一次检索，包括：在所述第一薄壁类构件对应的模型表面随机选取多个采样点；根据所述多个采样点的坐标值，得到若干个距离值，其中，所述距离值为所述多个采样点中任意两个采样点之间的欧式距离值；根据所述预设算法以及所述若干个距离值，得到所述第一薄壁类构件对应的概率分布直方图；根据所述概率分布直方图的纬度值，生成多维向量，并将所述多维向量作为所述第一薄壁类构件的特征表示符。

在一个示例中，根据所述第一薄壁类构件的特征表示符，与已确定的第二薄壁类构件的特征表示符之间的第一相似程度，得到第一检索结果，包括根据确定所述第一相似程度，其中，Similarity为所述第一相似程度，Compare为所述第一薄壁类构件与所述第二薄壁类构件的概率分布直方图之间的距离，且其中，D_a为所述第一薄壁类构件的特征表示符，D_b为所述第二薄壁类构件的特征表示符。

在一个示例中，根据所述第一薄壁类构件对应的局部特征值，在所述第一检索结果中进行第二次检索之前，所述方法还包括：确定所述第一薄壁类构件的局部特征值，其中，所述局部特征值与材料类别、材料牌号中的至少一种相关。

在一个示例中，根据所述第一薄壁类构件对应的局部特征值，在所述第一检索结果中进行第二次检索，包括：针对所述局部特征值中的每个参数，确定所述第一薄壁类构件与所述第一检索结果中的每个薄壁类构件对应的偏移量；基于所述局部特征值中每个所述参数对应的偏移量，确定所述第一薄壁类构件与所述第一检索结果中的每个薄壁类构件之间的第二相似程度。