[发明专利]一种针对薄壁类构件的检索方法、设备及介质

权利要求书

1.一种针对薄壁类构件的检索方法，其特征在于，包括：

确定待检索的第一薄壁类构件对应的全局特征值；

基于所述全局特征值以及预设算法，进行第一次检索，并得到所述第一次检索对应的第一检索结果；

根据所述第一薄壁类构件对应的局部特征值，在所述第一检索结果中进行第二次检索，其中，所述局部特征值与所述第一薄壁类构件的使用场景和/或材料相关；

将所述第二次检索对应的第二检索结果作为最终检索结果；

所述预设算法与所述第一薄壁类构件对应的模型表面随机两个采样点之间的距离值相关；

基于所述全局特征值以及预设算法，进行第一次检索，包括：

确定所述第一薄壁类构件对应的模型表面的，任意两个采样点之间的距离值；

根据所述预设算法以及所述距离值，得到所述第一薄壁类构件对应的距离值概率分布直方图；

根据所述概率分布直方图，确定所述第一薄壁类构件的特征表示符；

得到所述第一次检索对应的第一检索结果，包括：

根据所述第一薄壁类构件的特征表示符，与已确定的第二薄壁类构件的特征表示符之间的第一相似程度，得到第一检索结果；

基于所述全局特征值以及预设算法，进行第一次检索，包括：

在所述第一薄壁类构件对应的模型表面随机选取多个采样点；

根据所述多个采样点的坐标值，得到若干个距离值，其中，所述距离值为所述多个采样点中任意两个采样点之间的欧式距离值；

根据所述预设算法以及所述若干个距离值，得到所述第一薄壁类构件对应的概率分布直方图；

根据所述概率分布直方图的纬度值，生成多维向量，并将所述多维向量作为所述第一薄壁类构件的特征表示符；

根据所述第一薄壁类构件的特征表示符，与已确定的第二薄壁类构件的特征表示符之间的第一相似程度，得到第一检索结果，包括：

根据确定所述第一相似程度，其中，Similarity为所述第一相似程度，Compare为所述第一薄壁类构件与所述第二薄壁类构件的概率分布直方图之间的距离，且其中，D_a为所述第一薄壁类构件的特征表示符，D_b为所述第二薄壁类构件的特征表示符；

根据所述第一薄壁类构件对应的局部特征值，在所述第一检索结果中进行第二次检索之前，所述方法还包括：

确定所述第一薄壁类构件的局部特征值，其中，所述局部特征值与材料类别、材料牌号中的至少一种相关；

根据所述第一薄壁类构件对应的局部特征值，在所述第一检索结果中进行第二次检索，包括：

针对所述局部特征值中的每个参数，确定所述第一薄壁类构件与所述第一检索结果中的每个薄壁类构件对应的偏移量；

基于所述局部特征值中每个所述参数对应的偏移量，确定所述第一薄壁类构件与所述第一检索结果中的每个薄壁类构件之间的第二相似程度；

根据所述第一薄壁类构件对应的局部特征值，在所述第一检索结果中进行第二次检索，包括：

根据确定所述第一薄壁类构件与所述第一检索结果中的每个薄壁类构件对应的偏移量，其中，div为偏移量，A为所述第一薄壁类构件的参数值，B为所述第一检索结果中的薄壁类构件的参数值；

根据得到加权偏移量，其中，cast为加权偏移量，div_n为第n个参数对应的偏移量，为div_n对应的权重值；

根据sim＝(1-cast)*Similarity，确定所述第二相似程度，其中，sim为第二相似程度。