[发明专利]一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法

说明书

本发明涉及光学损耗测试领域，公开了一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法，包括：包括微环谐振系统、输入系统、输出系统，所述输入系统包括第一光纤和第一光耦合器，所述输出系统包括第二光纤、第二光耦合器、第三光耦合器，所述第一光耦合器一端与第一光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；所述第二光耦合器设置于所述微环谐振系统上行端，其一端与第二光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；所述第三光耦合器设置于所述微环谐振系统下行端，其一端与第二光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接。通过将被测光器件、光芯片嵌套进微环谐振系统，进而提高了测试精确度、稳定性和灵活性。

技术领域

本发明涉及光学损耗测试领域，更具体的说是涉及一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法。

背景技术

光学损耗是衡量光器件、光芯片性能的重要参数指标，决定了一个光器件、光芯片的应用场景。一般光学测试装置要求光纤和光耦合器有完美的对准，要求光纤每次测试都处于同一物理位置。市面上测试装置中的光纤、光耦合器、光波导等光学元件对测试结果均有一定的影响，不能够精确标定被测的光器件、光芯片的光学损耗，因此急需发明一种测试精度高、稳定性高和灵活性高的测试装置。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法，该光器件、光芯片损耗测试装置上设置有上下行结构的微环谐振系统，将被测光器件、光芯片嵌套进微环谐振系统，将光输入至微环谐振系统中，使整个系统产生光学谐振，记录相应位置的光谱，用算法反推出被测的光器件、光芯片在任意波长处的光学损耗，进行测试时，不要求光纤和光耦合器完美对接，也不要求光纤每次测试处于同一物理位置，因此该装置具有测试精度高，稳定性高和灵活性的特定。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种光器件、光芯片损耗测试装置，其特征在于：包括微环谐振系统、输入系统、输出系统；

所述输入系统包括第一光纤和第一光耦合器；

所述输出系统包括第二光纤、第二光耦合器、第三光耦合器；

所述第一光耦合器一端与第一光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；

所述第二光耦合器设置于所述微环谐振系统上行端，其一端与第二光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；

所述第三光耦合器设置于所述微环谐振系统下行端，其一端与第二光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接。

进一步的，所述第二光纤用来连接所述第二光耦合器或所述第三光耦合器。

进一步的，所述损耗测试装置还包括激光发射器、光谱记录仪。

一种光器件、光芯片损耗测试方法，其特征在于，使用所述一种光器件、光芯片损耗测试装置包括如下步骤：

步骤1：将被测的光器件、光芯片嵌套进微环谐振系统；

步骤2：激光发射器发射的激光输入第一光纤通过第一光耦合器耦合进入微环谐振系统；

步骤3：用第二光纤承接第二光耦合器输出的激光，并利用光谱仪记录其光谱，记录为“T”；

步骤4：再用第二光纤承接第三光耦合器输出的激光，并利用光谱仪记录其光谱，并记录为“D”；

步骤5：利用所述“T”与所述“D”拟合公式即可得到损耗。

进一步地，通过所述“T”与所述“D”结合以下步骤可获得光器件、光芯片的损耗：

第一步：进行第一次线性拟合

构造以下的线性拟合函数：

n＝n_gL·(1/λ_n-1/λ₀)