[发明专利]一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法

权利要求书

1.一种光器件、光芯片损耗测试方法，其特征在于：应用该方法的装置包括微环谐振系统、输入系统、输出系统；

所述输入系统包括第一光纤和第一光耦合器；

所述输出系统包括第二光纤、第二光耦合器、第三光耦合器；

所述第一光耦合器一端与第一光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；

所述第二光耦合器设置于所述微环谐振系统上行端，其一端与第二光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；

所述第三光耦合器设置于所述微环谐振系统下行端，其一端与第二光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；

所述测试方法包括：

步骤1：将被测的光器件、光芯片嵌套进微环谐振系统；

步骤2：将激光发射器发射的激光输入第一光纤通过第一光耦合器耦合进入微环谐振系统；

步骤3：用第二光纤承接第二光耦合器输出的激光，并利用光谱仪记录其光谱，记录为“T”；

步骤4：再移动第二光纤并承接第三光耦合器输出的激光，并利用光谱仪记录其光谱，记录为“D”；

步骤5：利用所述“T”与所述“D”拟合公式即可得到损耗；

其中，所述步骤5通过所述“T”与所述“D”结合以下步骤可获得光器件、光芯片的损耗：

第一步：进行第一次线性拟合

构造以下的线性拟合函数：

n和具有线性回归关系，回归系数即为；根据光谱记录仪记录的数据，选定一个特定的波长记为λ₀，记其谐振阶次n＝0，而后在它的两侧分别寻找若干谐振波长，并依次记录；所对应的谐振波长即为λ_n，依据上式进行线性回归拟合，即可得到回归系数；

第二步：进行第二次线性拟合

Γ＝KΛ

其中：

，

在光谱记录仪记录的数据中，取一段数据；为0.2(D_max-D_min)；通过对Γ和Λ的线性回归分析，可以得到另一个回归系数K；在这里，Λ的构建用到了第一步得到的回归系数；

其中，D_max表示为第二光纤承接第三光耦合器输出激光的最大光谱值、D_min表示为第二光纤承接第三光耦合器输出激光的最小光谱值；

第三步：得到损耗，具体表达式为：

即可得到最终损耗，其中：

其中，T_max表示为第二光纤承接第二光耦合器输出激光的最大光谱值；T_min表示为第二光纤承接第二光耦合器输出激光的最小光谱值；T_min和T_max在光谱记录仪中记录的数据显示。

2.如权利要求1所述的一种光器件、光芯片损耗测试方法，其特征在于，所述第二光纤用来连接所述第二光耦合器或所述第三光耦合器。

3.如权利要求1所述的一种光器件、光芯片损耗测试方法，其特征在于，所述损耗测试装置还包括激光发射器、光谱记录仪。