[发明专利]磁性体检测传感器在审

专利信息
申请号: 202010222311.8 申请日: 2020-03-26
公开(公告)号: CN111751768A 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 上村紘崇 申请(专利权)人: 艾普凌科有限公司
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 邓毅;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁性 体检 传感器
【权利要求书】:

1.一种磁性体检测传感器,其特征在于,

该磁性体检测传感器具有:

支承基板;

具有厚度的磁体,其在所述支承基板的一个或另一个主面上配置成磁化方向与所述主面平行;以及

半导体芯片,其配置在所述支承基板的一个或另一个主面侧,具有检测特定方向的磁场成分的磁场检测元件,

所述磁场检测元件配置在第一空间、第二空间以及第三空间之外,该第一空间在所述磁化方向上与所述磁体相邻,具有所述厚度,该第二空间在与所述磁化方向垂直的方向上与所述磁体相邻,该第三空间从所述第一空间沿着与所述特定方向垂直的方向延伸。

2.根据权利要求1所述的磁性体检测传感器,其特征在于,

所述半导体芯片配置在所述支承基板的一个主面侧,

所述支承基板的一个主面与所述磁场检测元件的距离比所述磁体在与所述磁化方向垂直的方向上的厚度大。

3.根据权利要求1或2所述的磁性体检测传感器,其特征在于,

所述磁体配置于凹部,该凹部设置在所述支承基板的一个或另一个主面侧。

4.根据权利要求1~3中的任意一项所述的磁性体检测传感器,其特征在于,

所述半导体芯片相对于所述支承基板的一个或另一个主面隔着中间部件而配置。

5.根据权利要求1~4中的任意一项所述的磁性体检测传感器,其特征在于,

在从所述特定方向俯视观察时,所述磁场检测元件与所述第一空间重叠。

6.根据权利要求1~5中的任意一项所述的磁性体检测传感器,其特征在于,

所述磁场检测元件被树脂膜覆盖。

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