[发明专利]建筑测量方法在审
申请号: | 202010203745.3 | 申请日: | 2020-03-20 |
公开(公告)号: | CN111307041A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 李思桥;王堃;冯文龙;宗晓;胡伟;肖南平 | 申请(专利权)人: | 嘉兴方石科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/30;G01B11/26 |
代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 王维新 |
地址: | 314000 浙江省嘉兴市南*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 建筑 测量方法 | ||
本发明提供了一种建筑测量方法。该建筑测量方法包括:接收用于指示对目标建筑进行测量的测量指示,所述测量指示包括所述目标建筑的待测量指标;根据所述测量指示调用传感器组件并获取测量流程;利用传感器组件对所述目标建筑进行测量,得到所述待测量指标的数据。本发明可以实现对建筑的室内或者室外的测量,可以实现将测量指示下发给移动式测量设备后,由移动式测量设备利用传感器组件和测量流程自动测量数据,以解决现有技术中的建筑测量方法存在的测量效率低以及数据准确性差的技术问题。
技术领域
本发明涉及施工测量技术领域,具体而言,涉及一种建筑测量方法。
背景技术
工程测量在工程质量的控制方面有着至关重要的作用。在施工各环节开始前需要前置条件测量、精准放线打样,过程中需要实时监测,完工后需要验收复测。施工全过程中,按照规范要求做到测量的准确和全覆盖,能够消除施工错误的遗留和积累,避免严重质量问题和重大经济损失,同时全面及时掌握施工信息,为高效调度和管理创造条件。准确、规范、高效的测量体系,是实现精品工程的决定性要素。
目前,建筑施工过程中的测量主要还是依靠手工工具实现,常用工具包括卷尺、靠尺、塞尺手持激光测距仪、吊线等,部分工程中开始应用全站仪、激光扫描仪等现代化电子测量设备。这些设备在使用中的问题主要有:
(1)手工测量设备精度低,测量过程受人员技能和身心状态影响大,测量准确度有很大的不确定性。
(2)全站仪、激光扫描仪等新型设备价格高昂,难以大范围普及。
(3)无论手工设备还是全站仪等测量设备,测量过程均较为繁琐,耗时长,数据处理量大,从而带来较高的人工成本。因此测量只能采用抽样方法,在实践中抽样率较低,施工质量难以保证。
(4)测量数据的记录和处理均由人工完成,无法避免数据篡改和编造等情况。
由此可知,现有技术中的建筑测量方法依赖人工作的内容较多,会造成测量效率低以及数据准确性差的问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种建筑测量方法,以解决现有技术中的建筑测量方法存在的测量效率低以及数据准确性差的技术问题。
为了实现上述目的,本发明提供了一种建筑测量方法,包括:接收用于指示对目标建筑进行测量的测量指示,所述测量指示包括所述目标建筑的待测量指标;根据所述测量指示调用传感器组件并获取测量流程;利用传感器组件对所述目标建筑进行测量,得到所述待测量指标的数据。
在一个实施方式中,所述待测量指标为线性距离,所述测量指示测量所述目标建筑的线性距离,根据所述测量指示调用传感器组件并获取测量流程包括:根据所述测量指示选择激光传感器组件并获取规划测量流程,所述规划测量流程包括测量点位和测量角度;利用传感器组件和所述测量模式对所述目标建筑进行测量,得到所述待测量指标的数据:根据所述规划测量流程得到测量点位和测量角度,利用定位导航系统移动到所述测量点位,在所述测量点位调整所述激光传感器组件的测量角度来测量线性距离,得到所述测量指示的所述线性距离的数据。
在一个实施方式中,所述待测量指标为用于表示平面性质的指标,根据所述测量指示调用传感器组件并获取测量流程包括:根据所述测量指示选择双目结构光相机组件;利用传感器组件和所述测量模式对所述目标建筑进行测量,得到所述待测量指标的数据:利用所述双目结构光相机组件拍摄所述目标建筑的被测平面照片,得到所述被测平面的点云数据,根据所述点云数据计算出所述被测平面的表示平面性质的指标的数据。
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