[发明专利]建筑测量方法在审
申请号: | 202010203745.3 | 申请日: | 2020-03-20 |
公开(公告)号: | CN111307041A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 李思桥;王堃;冯文龙;宗晓;胡伟;肖南平 | 申请(专利权)人: | 嘉兴方石科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/30;G01B11/26 |
代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 王维新 |
地址: | 314000 浙江省嘉兴市南*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 建筑 测量方法 | ||
1.一种建筑测量方法,其特征在于,包括:
接收用于指示对目标建筑进行测量的测量指示,所述测量指示包括所述目标建筑的待测量指标;
根据所述测量指示调用传感器组件并获取测量流程;
利用传感器组件对所述目标建筑进行测量,得到所述待测量指标的数据。
2.根据权利要求1所述的建筑测量方法,其特征在于,所述待测量指标为线性距离,所述测量指示测量所述目标建筑的线性距离,
根据所述测量指示调用传感器组件并获取测量流程包括:根据所述测量指示选择激光传感器组件并获取规划测量流程,所述规划测量流程包括测量点位和测量角度;
利用传感器组件和所述测量模式对所述目标建筑进行测量,得到所述待测量指标的数据:根据所述规划测量流程得到测量点位和测量角度,利用定位导航系统移动到所述测量点位,在所述测量点位调整所述激光传感器组件的测量角度来测量线性距离,得到所述测量指示的所述线性距离的数据。
3.根据权利要求1所述的建筑测量方法,其特征在于,所述待测量指标为用于表示平面性质的指标,
根据所述测量指示调用传感器组件并获取测量流程包括:根据所述测量指示选择双目结构光相机组件;
利用传感器组件和所述测量模式对所述目标建筑进行测量,得到所述待测量指标的数据:利用所述双目结构光相机组件拍摄所述目标建筑的被测平面照片,得到所述被测平面的点云数据,根据所述点云数据计算出所述被测平面的表示平面性质的指标的数据。
4.根据权利要求3所述的建筑测量方法,其特征在于,利用所述双目结构光相机组件拍摄所述目标建筑的被测平面照片,得到所述被测平面的点云数据,根据所述点云数据计算出所述被测平面的表示平面性质的指标的数据包括:
利用所述双目结构光相机组件拍摄所述目标建筑的被测平面照片,得到所述被测平面的点云数据,根据所述点云数据计算出所述被测平面的平整度;和/或
利用倾角传感器,生成水平基准,将所述点云数据与所述水平基准进行比较计算,得到被测表面的垂直度和水平度。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的建筑测量方法,其特征在于,得到所述待测量指标的数据包括:
将所述待测量指标的数据生成报表并将所述报表上传云端存储;或者
直接上传所述待测量指标的数据到云端。
6.根据权利要求1所述的建筑测量方法,其特征在于,所述方法还包括:
接收客户端的控制指令,按照所述控制指令进行数据测量,得到测量数据;
向所述客户端发送所述测量数据,以便所述客户端展示所述测量数据。
7.一种建筑测量装置,其特征在于,包括:
接收单元,用于接收用于指示对目标建筑进行测量的测量指示,所述测量指示包括所述目标建筑的待测量指标;
调用单元,用于根据所述测量指示调用传感器组件并获取测量流程;
测量单元,用于利用传感器组件对所述目标建筑进行测量,得到所述待测量指标的数据。
8.根据权利要求7所述的建筑测量装置,其特征在于,所述待测量指标为线性距离,所述测量指示测量所述目标建筑的线性距离,
所述调用单元还用于:根据所述测量指示选择激光传感器组件并获取规划测量流程,所述规划测量流程包括测量点位和测量角度;
所述测量单元还用于:根据所述规划测量流程得到测量点位和测量角度,利用定位导航系统移动到所述测量点位,在所述测量点位调整所述激光传感器组件的测量角度来测量线性距离,得到所述测量指示的所述线性距离的数据。
9.根据权利要求7所述的建筑测量装置,其特征在于,所述待测量指标为用于表示平面性质的指标,
所述调用单元还用于:根据所述测量指示选择双目结构光相机组件;
所述测量单元还用于:利用所述双目结构光相机组件拍摄所述目标建筑的被测平面照片,得到所述被测平面的点云数据,根据所述点云数据计算出所述被测平面的表示平面性质的指标的数据。
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