[发明专利]垂直半导体器件在审
申请号: | 202010201012.6 | 申请日: | 2020-03-20 |
公开(公告)号: | CN111725218A | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 梁宇成;任峻成;黄盛珉;金志荣;金智源 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/11529 | 分类号: | H01L27/11529;H01L27/11556;H01L27/11573;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王新华 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 垂直 半导体器件 | ||
1.一种垂直半导体器件,包括:
多个垂直存储单元,在第一基板的上表面上;
粘合层,在所述第一基板的与所述第一基板的所述上表面相反的下表面上;
第二基板,在其上具有第一外围电路;
下绝缘夹层,在所述第二基板上;以及
多个布线结构,电连接所述多个垂直存储单元和所述第一外围电路,
其中所述粘合层的下表面和所述下绝缘夹层的上表面彼此接触。
2.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,其中所述第一基板包括单晶半导体材料。
3.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,其中所述第一基板包括多晶硅。
4.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,其中所述粘合层包括Ga、GaN、铜以及含硅的化合物中的至少一种。
5.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,还包括:
第一绝缘夹层,覆盖在所述第一基板上的所述多个垂直存储单元。
6.根据权利要求5所述的垂直半导体器件,其中每个所述布线结构包括:
多个贯穿通路接触中的一个,穿过至少所述第一绝缘夹层、所述第一基板和所述粘合层,并与所述第一外围电路中的对应一个的下布线接触;和
上布线,电连接到所述多个贯穿通路接触中的所述一个。
7.根据权利要求6所述的垂直半导体器件,还包括:
绝缘间隔物,围绕所述多个贯穿通路接触中的至少一个的侧壁。
8.根据权利要求6所述的垂直半导体器件,还包括:
绝缘图案,围绕所述多个贯穿通路接触中的至少一个的侧壁。
9.根据权利要求6所述的垂直半导体器件,还包括:
绝缘间隔物,围绕所述多个贯穿通路接触中的至少一个的侧壁;和
绝缘图案,围绕所述多个贯穿通路接触中的至少另一个的侧壁。
10.根据权利要求6所述的垂直半导体器件,其中所述多个贯穿通路接触不与所述多个垂直存储单元直接接触。
11.根据权利要求5所述的垂直半导体器件,还包括:
包括绝缘材料的隔离图案,所述隔离图案在所述第一基板中,
其中每个所述布线结构包括:
多个贯穿通路接触中的一个,穿过至少所述第一绝缘夹层、所述隔离图案和所述粘合层,并与所述第一外围电路中的对应一个的下布线接触,和
上布线,电连接到所述多个贯穿通路接触中的所述一个。
12.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,其中所述垂直存储单元包括:
第一导电图案,在垂直于所述第一基板的所述上表面的方向上彼此间隔开;和
沟道结构,穿过所述第一导电图案,所述沟道结构电连接到所述第一基板。
13.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,还包括:
在所述第一基板和所述粘合层之间的下导电层。
14.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,其中
所述第一基板与所述第二基板的上表面重叠,并且
所述粘合层和所述下绝缘夹层在所述第一基板和所述第二基板之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的