[发明专利]垂直半导体器件在审

专利信息
申请号: 202010201012.6 申请日: 2020-03-20
公开(公告)号: CN111725218A 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 梁宇成;任峻成;黄盛珉;金志荣;金智源 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11529 分类号: H01L27/11529;H01L27/11556;H01L27/11573;H01L27/11582
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王新华
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 垂直 半导体器件
【权利要求书】:

1.一种垂直半导体器件,包括:

多个垂直存储单元,在第一基板的上表面上;

粘合层,在所述第一基板的与所述第一基板的所述上表面相反的下表面上;

第二基板,在其上具有第一外围电路;

下绝缘夹层,在所述第二基板上;以及

多个布线结构,电连接所述多个垂直存储单元和所述第一外围电路,

其中所述粘合层的下表面和所述下绝缘夹层的上表面彼此接触。

2.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,其中所述第一基板包括单晶半导体材料。

3.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,其中所述第一基板包括多晶硅。

4.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,其中所述粘合层包括Ga、GaN、铜以及含硅的化合物中的至少一种。

5.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,还包括:

第一绝缘夹层,覆盖在所述第一基板上的所述多个垂直存储单元。

6.根据权利要求5所述的垂直半导体器件,其中每个所述布线结构包括:

多个贯穿通路接触中的一个,穿过至少所述第一绝缘夹层、所述第一基板和所述粘合层,并与所述第一外围电路中的对应一个的下布线接触;和

上布线,电连接到所述多个贯穿通路接触中的所述一个。

7.根据权利要求6所述的垂直半导体器件,还包括:

绝缘间隔物,围绕所述多个贯穿通路接触中的至少一个的侧壁。

8.根据权利要求6所述的垂直半导体器件,还包括:

绝缘图案,围绕所述多个贯穿通路接触中的至少一个的侧壁。

9.根据权利要求6所述的垂直半导体器件,还包括:

绝缘间隔物,围绕所述多个贯穿通路接触中的至少一个的侧壁;和

绝缘图案,围绕所述多个贯穿通路接触中的至少另一个的侧壁。

10.根据权利要求6所述的垂直半导体器件,其中所述多个贯穿通路接触不与所述多个垂直存储单元直接接触。

11.根据权利要求5所述的垂直半导体器件,还包括:

包括绝缘材料的隔离图案,所述隔离图案在所述第一基板中,

其中每个所述布线结构包括:

多个贯穿通路接触中的一个,穿过至少所述第一绝缘夹层、所述隔离图案和所述粘合层,并与所述第一外围电路中的对应一个的下布线接触,和

上布线,电连接到所述多个贯穿通路接触中的所述一个。

12.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,其中所述垂直存储单元包括:

第一导电图案,在垂直于所述第一基板的所述上表面的方向上彼此间隔开;和

沟道结构,穿过所述第一导电图案,所述沟道结构电连接到所述第一基板。

13.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,还包括:

在所述第一基板和所述粘合层之间的下导电层。

14.根据权利要求1所述的垂直半导体器件,其中

所述第一基板与所述第二基板的上表面重叠,并且

所述粘合层和所述下绝缘夹层在所述第一基板和所述第二基板之间。

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