[发明专利]一种晶片承片台在审

专利信息
申请号: 202010176866.3 申请日: 2020-03-13
公开(公告)号: CN111403328A 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 傅立超;魏子尧 申请(专利权)人: 宁波润华全芯微电子设备有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;H01L21/687
代理公司: 宁波高新区永创智诚专利代理事务所(普通合伙) 33264 代理人: 钱照建
地址: 315400 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 晶片 承片台
【说明书】:

本发明公开了一种晶片承片台,涉及半导体加工领域;真空电机、承片台和吸盘;吸盘为陶瓷材质,且吸盘上均布有若干贯穿孔;吸盘固定于承片台上,真空电机和承片台固定,承片台上设有气道,气道与贯穿孔之间实现空气联通;真空电机用于将气道内的空气抽真空;当真空电机对气道抽真空时,外界空气通过贯穿孔进入气道内再由真空电机抽出,使每个贯穿孔具有吸附力。

技术领域

本发明涉及半导体加工领域,尤其涉及一种晶片承片台。

背景技术

在半导体工业中,需要旋转加工的时候所使用的承片台,当工艺要求,产品形状为方片,且产品为薄片时,需要晶片与承片台全部接触。

如中国实用新型专利CN110556327A所公开的一种晶片吸盘包括吸盘本体及多个密封环。吸盘本体包括承载表面及设置在所述承载表面上的至少一个真空孔,所述承载表面被配置成承载晶片。承载表面的直径对晶片的直径的比率大体上等于或大于45%且大体上等于或小于90%。密封环设置在承载表面上且被配置成在实体上接触晶片。密封环环绕真空孔。

上述现有技术的晶片承片台附性能弱,不能对晶片进行平整的吸附。

发明内容

一、要解决的技术问题

本发明的目的是针对现有技术所存在的上述问题,特提供一种晶片承片台,解决现有技术的晶片承片台附性能弱,不能形成对晶片进行平整的吸附问题。

二、技术方案

为解决上述技术问题,本发明提供一种晶片承片台,包括:真空电机、承片台和吸盘;

吸盘为陶瓷材质,且吸盘上均布有若干贯穿孔;

吸盘固定于承片台上,真空电机和承片台固定,承片台上设有气道,气道与贯穿孔之间实现空气联通;真空电机用于将气道内的空气抽出;

当真空电机对气道抽真空时,外界空气通过贯穿孔进入气道内再由真空电机抽出,使每个贯穿孔具有吸附力。

其中,承片台为PEEK材质。

其中,真空电机与承片台之间通过螺钉固定。

其中,承片台上设有溢流槽,溢流槽用于收集液体。

三、本发明的有益效果

与现有技术相比,本发明的晶片承片台具有如下有益效果;

通过陶瓷吸盘的设计,使吸盘的平整度更高,吸盘与晶片可以更好的贴合。

通过溢流槽的设计,使晶片表面的加工液可以流入溢流槽内,有效的避免多余的加工液污染晶片表面。

附图说明

图1为本发明的晶片承片台的爆炸图;

图2为本发明的晶片承片台的全剖示图;

图3为本发明的晶片承片台的局部放大图;

图中:1为真空电机;2为承片台;3为吸盘;21为溢流槽。

具体实施方式

下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不能用来限制本发明的范围。

实施例一、

本实施例的晶片承片台的结构如图1至3所示包括:真空电机1、承片台2和吸盘3;

吸盘3为陶瓷材质,且吸盘3上均布有若干贯穿孔;

承片台2为PEEK材质与吸盘3精密配合固定,,真空电机1通过螺钉和承片台2固定,承片台2上设有气道,气道与贯穿孔之间实现空气联通;真空电机1用于将气道内的空气抽出;

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